판매용 중고 TEL / TOKYO ELECTRON 20SR #9209464

TEL/TOKYO ELECTRON 20SR은 반도체 장치의 고급 테스트 및 특성을 위해 특별히 설계된 고성능 전문가입니다. TEL 20SR에는 고급 4 포인트 웨이퍼 (wafer) 관찰 측정 장비가 장착되어 있어 컨덕턴스, 저항, 커패시턴스 및 주파수와 같은 칩의 전기 특성을 빠르게 측정 할 수 있습니다. 최첨단 요구 사항을 충족하도록 설계되었으며, 모든 단계의 디바이스 설계 및 구성 (Fabrication) 에서 정확한 측정 결과를 제공할 수 있으며, 엔지니어링 생산성, 디바이스 신뢰성, 프로세스 최적화 등을 보장할 수 있습니다. TOKYO ELECTRON 20 SR은 향상된 비접촉식 측정 시스템을 갖추고 있어 장치 내 (in-situ) 및 팬 스펙트럼 (pan-spectral) 측정이 가능합니다. 이 장치는 최대 4 개의 레이저 헤드, 1 개의 화환 메커니즘 및 1 개의 검출기 장치를 포함하는 6 개의 헤드 조합을 사용합니다. 이를 통해 보다 광범위한 장치 형상 (device geometry) 과 디바이스 (device) 간의 균일 데이터를 수집할 수 있습니다. TEL 20 SR로 고성능 레이아웃 분석 및 전기 테스트를 수행 할 수 있으며, 정량적 특성화를 위해 Sub-Micron 해상도 결과를 얻을 수 있습니다. 직관적 인 사용자 인터페이스를 통해 측정 설정과 결과를 신속하게 조작하고 이해할 수 있습니다. 20SR 은 병렬 테스트 및 보정 (calibration) 을 위해 설계되었으며, 처리 시간 단축 및 효율성 향상을 지원합니다. 4 포인트 웨이퍼 컨택터 (4-point wafer contactor) 는 동일한 웨이퍼에 위치한 여러 개의 동시 장치에 연결할 수 있으며, 동시에 모든 장치에 대해 균일 한 테스트 환경을 제공합니다. 테스트 실행은 매개변수 세트에 따라 초 단위로 완료할 수 있습니다. 고급 안전 기능은 20 SR- '안전 잠금' 모드에 있습니다. 이 모드에서는 두 웨이퍼 (wafer) 간의 우발적 접촉을 방지하고 운영자에게 안전한 테스트 환경을 보장합니다. 진단 머신 (Diagnostic Machine) 기능은 공구의 모든 측면을 모니터링하여 다양한 테스트 조건에서 성능을 극대화합니다. 이 자산은 또한 모든 테스트 데이터를 위한 스토리지 (Storage) 기능을 제공하여, 새로운 결과와 비교하기 위해 기존 테스트를 신속하게 리콜할 수 있습니다. TOKYO ELECTRON 20SR Prober는 최고의 정확성과 신뢰성을 제공하도록 설계되어 테스트 프로세스 전반에 걸쳐 고정밀도 일관성을 제공합니다. 현대적 인 "반도체 '개발 과 제조 의 요구 를 충족 시킬 수 있는 고급 기능 이 있다. 결과적으로 TEL/TOKYO ELECTRON 20 SR (TELL/TOKYO ELECTRON 20 SR) 은 높은 수준의 기술 품질을 유지하면서 비용 효율적인 결과를 제공할 수 있습니다.