판매용 중고 TEL / TOKYO ELECTRON 20SR #9132691

TEL/TOKYO ELECTRON 20SR은 매우 높은 정확도와 속도로 웨이퍼 검사를 위해 설계된 고급 전문가입니다. TEL 20SR (TEL 20SR) 은 웨이퍼 모서리, 부리를 조사하고 웨이퍼 서피스의 품질을 검사하고 측정하는 데 사용됩니다. 또한 그래픽 및 테이블 형식으로 제공되는 자동 웨이퍼 분석을 제공합니다. TOKYO ELECTRON 20 SR에는 웨이퍼 표면의 가장 작은 차이를 측정 할 수있는 정적 측정 장비가 장착되어 있습니다. 이 시스템은 표면 조건에서 가장 희미한 변형을 감지하는 스트로브 센서 (Strobe Sensor) 와 불규칙성을 감지하는 프로브 센서 (Probe Sensor) 의 두 부분으로 구성됩니다. 측정 결과는 데이터베이스에서 동시에 저장되며, 이를 통해 사람의 오류의 위험을 최소화할 수 있습니다. 웨이퍼 표면에 대한 수동 쓰기는 TOKYO ELECTRON 20SR에서 쉽게 읽을 수 있습니다. 고급 자동 초점 장치 (advanced auto focus unit) 는 센서의 초점 지점을 자동으로 조정하여 수동 쓰기를 명확하게 캡처합니다. 결과는 큰 LCD 화면의 그래픽 표현에 명확하게 표시됩니다. 또한, TEL/TOKYO ELECTRON 20 SR에는 wafer의 목표 두께에서 미세한 편차를 감지 할 수있는 비 접촉 정확도 측정 기계가 장착되어 있습니다. 이 도구는 플랫 웨이퍼에 적합한 프로브 헤드 (Probe Head) 와 접촉하지 않는 정밀도 측정을위한 반도체 웨이퍼 (Semiconductor Wafer) 로 구성됩니다. 프로버 (Prober) 는 또한 사용자 정의 매개 변수 설정을 제공하므로 연결된 PC로 빠르고 쉽게 데이터를 전송할 수 있습니다. 이 기능을 사용하면 데이터를 신속하게 전송하고, 더 쉽게 웨이퍼 검사 (wafer inspection) 소프트웨어를 구성할 수 있습니다. TEL 20 SR의 무선 연결은 또한 먼 거리에서 원격 데이터 전송을 가능하게합니다. 데이터 정확성을 보장하기 위해 20 SR에는 이중 검사기 에셋 (double-checker asset) 이 있어 평가 결과의 변형을 두 번 확인할 수 있습니다. 이 이중 검사기 모델은 웨이퍼 검사 및 품질 제어에 더 정확한 결과를 제공합니다. 전반적으로, 20SR은 높은 정확도와 속도로 웨이퍼 검사를 위해 설계된 고급 전문가입니다. 자동 초점 장비 (Auto Focus Equipment), 비접촉 정밀도 측정 시스템 (Non-Contact Accuracy Measuring System) 및 이중 검사기 장치 (Double-Checker Unit) 를 사용하면 사용자 정의 매개변수 설정을 사용하여 웨이퍼의 품질을 쉽게 검사하고 데이터를 신속하게 전송할 수 있습니다.