판매용 중고 TEL / TOKYO ELECTRON 20SR #9132514

TEL/TOKYO ELECTRON 20SR (TEL/TOKYO ELECTRON 20SR) 은 반도체 제작에 사용되는 프로버로, 장치 성능을 보장하고 수익률 향상을 제공하는 데 필수적입니다. 전장 프로브 스테이션 (Full-Field Probing Station) 은 시야가 넓고 정확도가 높은 센서로, 대규모 구성 요소와 웨이퍼를 조사하는 데 이상적입니다. 이 제품은 다양한 디바이스 기능을 갖추고 있으며, 여러 개의 샘플을 동시에 테스트하도록 구성할 수 있습니다. TEL 20SR 은 (는) 개발 및 운영 단계에서 프런트엔드 Probe 에 적합하여 디바이스 품질 제어 및 특성을 위한 안정적이고 정확한 데이터를 제공합니다. 안정성, 저렴한 가격, 높은 처리량을 제공하도록 설계되어, 웨이퍼 (Wafer) 구성 라인에 적합합니다. 내장 저항 센서, 고정밀 레이저 프로파일러, 전원 측정기, 컨택트 앵글 미터 (Contact Angle Meter) 를 장착하여 웨이퍼 및 장치 구조에 대한 포괄적 인 데이터를 제공합니다. TOKYO ELECTRON 20 SR Probe에는 이미지 인식 (image recognition) 을 통해 칩 부품을 정확하게 찾을 수있는 고급 패턴 일치 기술이 있습니다. 이렇게 하면 결함을 찾는 데 유용합니다. 또한 TRANSISTORS 및 FINFET과 같은 작은 구성 요소를 볼 수있는 현미경 기능이 있습니다. 이 기능은 고해상도를 가지며, 여러 칩을 한 번에 스캔하는 데 사용할 수 있습니다. 프로브 (Probe) 는 프로브 헤드 (Probe Head) 의 온도를 모니터링하고 제어함으로써 따뜻한 환경 조건에서 안정적인 작동을 보장하는 고급 열 제어 시스템을 갖추고 있습니다. 높은 정확도의 이미지를 캡처하기 위해 프로브 (Probe) 에는 깊은 색상 범위를 가진 내장형 고급 카메라가 있습니다. 이 카메라는 웨이퍼에 대한 높은 세부 사항을 검사 할 수 있습니다. 오류 보고서를 캡처하려면 Probe는 20 SR 내부 메모리에 이미지와 데이터를 기록합니다. TOKYO ELECTRON 20SR에는 프로브와 다른 시스템 간의 데이터 전송을위한 여러 통신 형식이 있습니다. 이러한 형식에는 이더넷, USB 및 WLAN 지원을 위한 인터페이스가 포함됩니다. 아카이브를 저장하고 외부 장치에 연결하기 위해 Probe의 내부 메모리 (500GB) 는 500GB입니다. Probe는 반자동 및 수동 모드에서 작동하므로 사용자가 설정을 사용자 정의할 수 있습니다. 결론적으로, 20SR은 반도체 제작에서 가장 까다로운 어플리케이션에 적합한 고성능 프로버입니다. 뛰어난 열 제어, 정확한 패턴 인식, 고해상도 (High Resolution) 카메라로, 웨이퍼와 칩의 마이크로 구조를 분석하는 강력한 도구입니다. 또한 다른 시스템 및 내부 메모리와의 통신 인터페이스가 있으므로 대규모 프로젝트와 다중 장치 프로브 (multiple device probing) 에 적합합니다.