판매용 중고 TEL / TOKYO ELECTRON 20SR #9132499

TEL/TOKYO ELECTRON 20SR은 웨이퍼 조사 (Wafer Probing), 전기 측정 (Electrical Measurements) 및 시각 검사 (Visual Inspections) 등 다양한 프로세스에서 IC 보드 생산의 진행 상황을 검사하는 데 사용되는 전문가입니다. 견고한 플랫폼을 기반으로 하여 안정적인 운영 및 생산성을 제공합니다. TEL 20SR (Scanning Electron Microscope) 은 성능에 최적화되어 있으며, 감도와 해상도가 장치 결함의 검출에 이상적인 스캐닝 전자 현미경을 갖추고 있습니다. TOKYO ELECTRON 20 SR의 사용자 친화적이고 직관적인 제어 인터페이스 (Control Interface) 는 다양한 장치 구조에 맞게 레시피를 조정하는 동안 작동을 단순하고 효율적으로 만듭니다. 웨이퍼 프로브 (wafer probing) 모드에서 시간당 최대 200 개의 웨이퍼를 검사 할 수있는 반면, 전기 측정 (electrical measurements) 및 시각 검사 (visual inspection) 모드에서 자세한 제품 검사에 사용할 수 있습니다. 이 Prober는 프로덕션 환경에서 탁월한 성능을 발휘하도록 설계되었습니다. 고정밀 XYZ 제어 단계 및 고급 광학 시스템은 정확한 자동 프로빙 및 레이저 패턴 인식을 보장합니다. 인사이트 프로세스 이미징 (in-situ process imaging) 및 분석 (analytics) 은 모든 검사 단계에서 결함의 빠르고 정확한 발견을 제공하는 반면, 통합 레이저 수리 시스템은 손상된 영역을 수리하기 위해 건강한 다이 만 추출 할 수 있습니다. TOKYO ELECTRON 20SR에는 프로그래밍을 단순화하고 향상시키는 고급 패턴 인식 알고리즘도 있습니다. 결함이있는 다이 영역을 빠르고 정확하게 식별 할 수 있습니다. 다이 당 최대 13 가지 전기 특성을 측정 할 수 있으며, 잠재적 인 장치 문제에 대한 포괄적 인 분석을 제공합니다. 또한, 이미지를 실시간으로 캡처하여 누락되었을 수 있는 이상 (이상) 을 감지할 수 있습니다. 전반적으로 TEL 20 SR은 IC 보드 생산에 이상적으로 적합한 강력하고 신뢰할 수있는 전문가입니다. 빠르고 간편한 설정, 뛰어난 감도, 뛰어난 화질을 제공합니다. 자동화된 기능은 빠르고 정확한 검사를 보장하는 반면, 고급 패턴 인식 시스템은 검사 (inspection) 프로세스에 대한 탁월한 정확성을 제공합니다. 효율성과 생산성을 높이는 데 필수적인 도구입니다.