판매용 중고 TEL / TOKYO ELECTRON 20SR #27536

TEL/TOKYO ELECTRON 20SR은 집적 회로를 테스트하고 검사하기 위해 반도체 장치 제조에 사용되는 전문가입니다. 이 제품은 복잡한 네트워크 구조를 정확하게 설계하고 시뮬레이션할 수 있는 고정밀 CAD 장비를 내장하고 있습니다. 또한 사용자는 사용자 정의 템플릿 디자인을 만들고 저장할 수 있습니다. 프로버 (Prober) 에는 막 척 (Membrane chuck) 과 광범위한 직경에서 웨이퍼를 조사 할 수있는 자동 Z축 메커니즘이 포함됩니다. 고정밀, 3 차원 디자인은 웨이퍼 동작에 대한 엄격한 제어를 유지하면서 접촉 변위를 정확하고 빠르게 조정할 수 있습니다. 빠른 스캔 속도와 강력한 전자 장치는 TEL 20SR을 빠르고 안정적으로 만듭니다. 이 장치에는 조사 작업의 문제를 정확하게 진단하는 접촉 감지 (Contact Sensing) 기능이 포함되어 있습니다. 이 기계는 또한 최적의 작동을 보장하는 내부 교정 기능 (internal calibration function) 과 더 빠르고 정확한 결과를 얻기 위한 다양한 자동 측정 기능 (automated measurement function) 을 갖추고 있습니다. TOKYO ELECTRON 20 SR은 또한 여러 연결 옵션을 제공하여 사용자는 다른 기기 및 원격 시스템에 연결할 수 있습니다. TEL 20 SR은 고온, 진동 등 까다로운 작동 조건에서 뛰어난 성능을 제공할 수 있습니다. 봉인된 몸은 먼지나 오염 물질이 들어오지 않도록 보장하고, 프로브 팁의 오염을 방지하고, 신뢰할 수있는 데이터를 보장합니다. 내구성이 뛰어난 구조는 안정적인 성능과 장기적인 신뢰성을 보장합니다. TEL/TOKYO ELECTRON 20 SR은 저온 충격 저항과 뛰어난 신호 처리 능력 덕분에 장치 테스트 및 프로브 처리량을 가속화 할 수 있습니다. 또한 빠른 주사 속도와 높은 온도에도 불구하고 높은 정확도를 유지하는 능력으로도 유명합니다. 이는 설계에서 검증되고 테스트된 장치 (Fully Valided and Tested Device) 에 이르기까지 더 높은 수율과 더 빠른 출시 시간을 제공합니다. 20 SR은 또한 고급 데이터 로깅 기능을 지원하므로 사용자가 나중에 분석할 수 있도록 Probing 데이터를 저장, 수집, 분석할 수 있습니다. 이 기능은 복잡한 장치 설계를 위한 품질 관리, 데이터 기록 및 분석 (Data Recording and Analysis) 및 신뢰성 테스트 (Reliability Test) 에 이상적인 기능을 제공하여 Prober 및 프로덕션 환경의 견고성을 보장합니다. 전반적으로 20SR (20SR) 은 고급 설계 기능, 안정성, 성능을 갖춘 시스템을 조사하기 위한 탁월한 선택으로, 오늘날 지속적으로 발전하는 반도체 장치 제조 시장을 위한 최상위 선택입니다.