판매용 중고 TEL / TOKYO ELECTRON 20S #9270099

TEL/TOKYO ELECTRON 20S는 다양한 테스트 및 검사 응용 프로그램에서 정확한 결과를 제공하는 다재다능하고 강력한 전문가입니다. 200 ~ 300mm (mm) 범위의 여러 기판을 수용하도록 설계된 휴대성과 소형 프로브 스테이션입니다. TEL 20S prober는 정확하고 정확한 정렬을 위해 동력 단계의 이중 축 변환 단계를 제공합니다. Prober는 기판을 조사하고 정렬한 다음 필요한 스캔 경로를 프로그래밍합니다. 스캔은 쉽게 2 차원 (X 및 Y) 으로 수행 할 수 있습니다. 이중 축 단계에는 쉽게 조사하고 정확할 수있는 자기 중심 기능이 있습니다. 이 검사는 반사 측량, 다크 필드, 브라이트 필드, 차동 이미징 등 다양한 구성 가능한 광학에서 웨이퍼 테스트를 수행 할 수 있습니다. 또한, Prober에는 웨이퍼 테스트 중 이미지 입수를 최적화하는 광 정렬 도구가 장착되어 있습니다. IVR (Integrated Voice Response) 장비를 사용하면 터치 스크린 인터페이스를 통해 시스템과 통신할 수 있습니다. IVR 장치를 사용하면 기계의 기능에 빠르고 쉽게 액세스할 수 있으며, 프레 버 (Prober) 가 작동함에 따라 음성 피드백을 제공합니다. TOKYO ELECTRON 20S 프로버에는 전도성 프로브, E-beam 박스, 광학 검출기 및 현미경, 스캐닝 터널링 현미경 (STM) 을 포함한 광범위한 프로브도 포함되어 있습니다. 이를 통해 표면 검사, 전도성 테스트, E-beam 리소그래피 및 STM 분석과 같은 광범위한 응용 프로그램이 가능합니다. 이 프로버는 핵심 기능 외에도 자동 튜닝 기능 (auto-tunning facility) 및 이미지 분석 기능도 내장되어 있습니다. 이를 통해 반도체 웨이퍼를 빠르고 효율적으로 테스트할 수 있습니다. 프로버 (Prober) 는 또한 소음 억제 (Noise-suppression) 로 만들어져 환경 소음의 영향을 최소화하며, 웨이퍼 표면에 쉽게 액세스 할 수있는 핫 척 (Hot Chuck) 어댑터도 제공합니다. 또한, 프로버 (prober) 는 점도 두께 제어 (viscosity-thickness control) 와 같은 추가 기능을 갖추고 있으며, 이를 통해 프로버에 배치 된 다른 재료를 정확하게 측정 할 수 있습니다. 또한 Probe의 잘못된 정렬을 신속하게 감지할 수 있는 자동 검색 도구가 포함되어 있습니다. 20S 프로버는 반도체 웨이퍼 테스트 및 프로브에 이상적인 도구입니다. 그것 의 특징 과 정확도 의 결합 으로 말미암아, 여러 가지 기판 의 "테스트 '와 조사 가 필요 한 모든" 응용프로그램' 을 위한 귀중 한 도구 가 된다.