판매용 중고 TEL / TOKYO ELECTRON 20S #293809597

TEL/TOKYO ELECTRON 20S는 IC 장치 및 부품 테스트를 위해 설계된 전문가입니다. 반도체 디바이스 엔지니어링 및 개발을 위한 경제적인 솔루션으로, 구성 요소와 디바이스를 정확하고 안정적으로 측정할 수 있습니다 (영문). 이 증명자는 IV (Current-Voltage) 특성, 항복 분석 및 실패 분석과 같은 작업을 수행 할 수 있습니다. 다용도 및 사용 편의성을 통해 다양한 어플리케이션에 이상적인 선택이 됩니다. TEL 20S에는 조절 가능한 프로브 암과 헤드가 장착되어 있습니다. 팔과 머리가 결합하여 불균형한 웨이퍼 하중에서도 뛰어난 정확성과 안정성을 제공합니다 (예: wafer load). 조절 가능한 Probe Arm은 Micrometer 드라이브를 사용하여 정확한 포지셔닝 및 강제 피드백을 제공합니다. 헤드는 압전 요소를 사용하여 빠르고 일관된 프로브를 제공합니다. 이는 Probe 아래의 장치에서 접촉력을 최소화하면서 정확성을 보장합니다. TOKYO ELECTRON 20S는 또한 핀-전극, 켈빈 및 유도 유형을 포함한 표준 프로브 라인을 갖추고 있습니다. Probe 를 선택하면 Device Characterization, Yield Analysis, Failure Analysis 등 다양한 애플리케이션이 제공됩니다. 또한, 이 프로버는 자동 프로빙 시스템 및 특수 보호 베이스 (Special Protection Base) 및 활성 프로브 (Active Probing) 와 같은 다양한 액세서리 구성 요소와 호환됩니다. 20S는 직관적인 사용자 인터페이스로 설계되었습니다. LCD 화면에 모든 관련 측정 매개변수 및 설정이 표시됩니다. 또한, 다양한 사전 설정/사용자 정의 측정 루틴과 데이터 분석/내보내기 기능을 사용할 수 있습니다. 이를 통해 측정 프로세스, 데이터 분석, 아카이빙 등을 쉽고 정확하게 제어할 수 있습니다. TEL/TOKYO ELECTRON 20S는 엔트리 레벨 및 고급 사용자 모두를 위해 설계되었습니다. 설치, 사용이 간편하며 다양한 기능과 어플리케이션을 제공합니다. 직관적 인 사용자 인터페이스와 조절 가능한 프로브 (Probe) 를 통해 정확하고 정확하게 측정 할 수 있습니다. 또한, 자동 Probing 시스템과의 호환성을 통해 효율적이고 반복 가능한 프로세스가 가능합니다. TEL 20S는 전문 반도체 생산 또는 연구 환경의 필수 부분입니다.