판매용 중고 TEL / TOKYO ELECTRON 19S #9228721

TEL/TOKYO ELECTRON 19S는 반도체 테스트를 위해 설계된 전문가입니다. 이 다목적 프로버는 마이크로파 프로브, 레이저 프로브, 스프링 프로브 테스트 등 다양한 프로브 기술을 결합합니다. 컴팩트 한 디자인으로 집적 회로 생산 및 테스트에 적합하며, FAB (Fab Level Throughput) 에서 정확하고 안정적인 테스트가 가능합니다. TEL 19S Prober에는 고급 장비 아키텍처가 내장되어 있으며, 여기에는 Windows CE 설치 운영 체제, 고속 디지털 통신 인터페이스, 내장 표준 레시피, 메뉴 기반 디버그 및 레시피 개발 시스템, 특수 보정 도구가 포함됩니다. 또한 레이저 프로브, 분리 프로파일 링, 일반 스프링 프로브 기술을 지원하는 효율적인 4 채널 프로브 유연성을 제공합니다. 또한 사용자는 고속 데이터 샘플링 (3MHz) 과 50dB 이상의 다양한 동적 범위에 액세스할 수 있습니다. TOKYO ELECTRON 19 S는 고속 정밀 프로브 (precision probing) 와 고도로 통합된 멀티 다이 지원 반도체 기술의 요구를 충족하도록 설계된 서브 미크론 정확도를 제공합니다. 또한 19S 프로버는 최대 4 와이어 켈빈 및 레이저 프로브를 지원합니다. 포괄적인 장애 분석 기능을 통해 Probe 관련 문제를 쉽게 감지하고 해결할 수 있습니다. TEL 19 S Prober는 최신 Prober 기술을 통합하고 300mm 웨이퍼 기반의 반도체 기술을 포함하여 다양한 반도체 기술과 호환되도록 설계되었습니다. Prober의 확장 테스트 기능은 반복 가능성과 정확성, 그리고 최대 웨이퍼 처리량 (Wafer Throughput) 으로 Probe를 제공합니다. 이 장치에는 초고속 (super-fast) 케이블 연결 기능이 포함되어 있어 플랫폼의 기계적, 전기적 케이블 연결 시간이 단축됩니다. 신뢰성 및 지원 측면에서 TEL/TOKYO ELECTRON 19 S 프로버는 강력한 서비스 네트워크에 의해 지원됩니다. 서비스 네트워크 (service network) 는 시스템의 하이엔드 성능과 신뢰성의 지속적인 가동 시간을 보장하도록 설계되었습니다. 사용자 교육 및 유지 보수 패키지 (User Training and Maintenance Package) 도 제공되므로 최신 Prober 전문 지식을 쉽게 얻을 수 있습니다. 전반적으로 19 S 프로버는 반도체 장치 테스트를위한 강력하고 신뢰할 수있는 도구입니다. 고급 기능과 강력한 서비스 네트워크 (SSP) 지원을 통해 효율성을 높이고 FAB (Fab-Level) 에서 테스트 결과를 최적화할 수 있도록 설계되었습니다.