판매용 중고 TEL / TOKYO ELECTRON 19S #9148301

TEL/TOKYO ELECTRON 19S (TEL/TE TEL 19S) 는 광범위한 반도체 제품 및 재료에 대한 최고 품질의 웨이퍼 테스트 및 표면 검사를 제공하기 위해 설계된 생산 등급 표면 검사 전문가입니다. 이 제품은 높은 수준의 자동화, 유연성, 정확성을 제공하므로 고급 반도체 테스트 (advanced semiconductor test) 환경에서 사용할 수 있습니다. TOKYO ELECTRON 19 S는 단일 로봇 어셈블리로 결합되는 통합 메인프레임, 프로브 헤드 및 비전 장비로 구성됩니다. 메인프레임 (mainframe) 은 스테인리스 스틸 베이스 플레이트가 장착 된 견고한 알루미늄 프레임으로, 높은 수준의 정확성과 견고성을 제공합니다. 메인프레임에는 특허를 획득한 단방향 연속 회전 (uni-directional continuous rotation) 및 선형 액추에이터 (linear actuator) 시스템이 장착되어 있어 프로브 헤드의 매우 정확하고 부드러운 움직임을 제공합니다. 선형 (linear) 및 회전 (rotary) 동작의 이동 축 수는 응용 프로그램의 특정 요구 사항에 맞게 조정할 수 있습니다. Probe 헤드는 회전 P + S II 바닥 수준 Optic Aligner, 소스 검출기 장치 및 다양한 센서 및 Probe 장치로 구성됩니다. 프로브 헤드 (Probe Head) 는 고급 광학을 사용하여 웨이퍼 (Wafer) 또는 장치의 서피스를 정확하게 정렬하고 서피스의 근접성을 정확하게 측정합니다. "센서 '" 시스템' 은 혹독 한 환경 과 정확 한 측정 이 필요 한 많은 "응용프로그램 '에서 사용 하도록 설계 되었다. 소스 검출기 (source detector) 는 이미징 (imaging) 및 센서 (sensor) 와 결합하여 테스트 및 검사를 위해 표면에 대한 정확한 평가를 제공합니다. 이 기술에는 고급 3D 이미징 기술과 이미지 처리 알고리즘이 포함되어 있어 매우 상세하고 정확한 표면 검사를 수행할 수 있습니다. 19 S Vision Unit은 Prober의 테스트 및 검사 구성 요소를 철저히 검사하도록 설계되었습니다. 이미징 머신은 초당 28m 포인트를 획득하며 기능을 0.01m까지 정확하게 측정 할 수 있습니다. 이를 통해 매우 다양한 재료 및 부품에 대한 상세한 분석 (놀라운 정확성) 을 얻을 수 있습니다. 이 비전 도구 (Vision Tool) 는 광범위한 데이터 획득, 이미지 처리, 뛰어난 표면 검사를 위한 추출 기능 (Extraction Capability) 을 제공하는 다양한 컴퓨터 기능을 활용합니다. TEL/TOKYO ELECTRON 19 S는 까다로운 환경에서 높은 신뢰성과 뛰어난 성능을 제공하도록 설계되었습니다. 광범위한 테스트/검사 시나리오를 위한 높은 정확성과 반복 기능을 제공합니다. TEL 19 S 는 또한, 엔지니어들이 자동화된 테스트 및 검사 작업의 강력하고 복잡한 시퀀스를 만들 수 있는 다양한 소프트웨어 제품군을 제공합니다. TOKYO ELECTRON 19S prober는 반도체 제품 또는 재료에 대한 정확한 측정 및 검사를 제공하는 고급 표면 검사 도구입니다. 정밀 동작, 고급 옵틱, 강력한 센서, 탁월한 정확성과 반복 성을 제공하는 강력한 비전 에셋을 결합했습니다. 19 S 는 복잡한 테스트/검사 작업을 지원하는 정교한 소프트웨어 제품군을 통해 높은 수준의 자동화/유연성을 제공합니다.