판매용 중고 TAKAYA APT 9411CE #293762873

TAKAYA APT 9411CE (TAKAYA APT 9411CE) 는 집적 회로 및 기타 반도체 구조의 결함을 정확하게 감지하고 측정하도록 설계된 고성능 전문가입니다. TAKAYA APT9411-CE는 Z 단계 250m와 X/Y 단계 40mm로, 장치의 넓은 영역에 걸쳐 패턴을 정확하게 측정 및 분석 할 수 있습니다. 이 장비에는 가변 속도, 고해상도 XYZ (High-Resolution XYZ) 단계가 장착되어 있어 표본의 모든 단면이나 특징을 정확하고 정확하고 반복적으로 스캔 할 수 있습니다. APT 9411 CE는 다양한 고해상도 광학 프로브 (optical probe) 를 사용하여 표면, 가장자리, 필름 두께 등 다양한 장치 매개변수를 매핑하고 측정할 수 있습니다. 다양한 유전체, 정전 및 누출 전류도 측정 할 수 있습니다. 이 시스템에는 이미지 프리 프로세서 (Image Pre Processor) 도 포함되어 있어 결함의 자동 감지와 LogiGrid Pro 기능 및 장치 구성 프로세서 (Device Fabrication Processor) 와 같은 고급 소프트웨어 기능이 제공됩니다. TAKAYA APT-9411 CE (TAKAYA APT-9411 CE) 에는 대형 컬러 디스플레이, 직관적인 터치 스크린 인터페이스 및 다양한 입력/출력 도구가 있어 경험이 부족한 사용자에게도 쉽게 사용할 수 있습니다. 또한 고급 자동 정렬 장치 (Advanced Automated Alignment Unit) 가 장착되어 있어 프로브와 샘플을 쉽고 정확하게 배치할 수 있습니다. 또한, 기계는 측정 중 정밀한 열 제어 및 안정성을 보장하는 고급 온도 제어 (temperature control) 기술을 갖추고 있습니다. APT9411-CE (APT9411-CE) 는 다양한 프로세스 조건을 수용하도록 설계되어 광범위한 반도체 테스트 어플리케이션에 이상적인 솔루션입니다. 완전하게 자동화된 설계는 또한 사람의 오류를 제거하고 테스트 시간을 크게 줄입니다. 이 도구의 고급 기능은 안정적이고 정밀한 결함 분석 (Defect Analysis) 및 기타 반도체 측정에 이상적입니다. 직관적인 사용자 인터페이스, 고급 기능과 결합한 APT 9411CE (APT 9411CE) 는 다양한 반도체 테스트 및 프로덕션 어플리케이션에 이상적인 선택입니다.