판매용 중고 TAKAYA APT 8400CE #145870

TAKAYA APT 8400CE는 반도체 칩 및 부품 테스트를 위해 설계된 전문가입니다. 이 Prober는 최대 10 개의 다른 로드 보드를 작동 할 수 있으므로 웨이퍼 (Wafer) 환경에서 대용량 테스트에 이상적입니다. 저소음 지그가 특징이며 AC 논리 레벨, DC 논리 레벨, 펄스 테스트, 유출 전류 측정 등 다양한 테스트 매개변수를 처리 할 수 있습니다. 이 프로버는 또한 15 핀 테이프 다운 스테이션이 장착 된 통합 웨이퍼 처리 장비를 제공합니다. TAKAYA APT-8400 CE는 반도체 테스트 분야에서 최고의 정확성과 신뢰성을 위해 설계되었습니다. 금도금 프로브와 개폐식 지상환을 활용한 접촉측정시스템 (Contact Measurement System) 으로, 매번 안전하고 신뢰할 수 있는 접촉이 가능하다. 프로버 (Prober) 는 또한 최적의 테스트 온도를 유지하기 위해 현장 온도 판독 및 에어컨을 갖춘 지능형 온도 제어 장치를 사용합니다. APT 8400CE는 많은 데이터 분석 및 디스플레이 기능을 갖추고 있습니다. 프로버 (Prober) 는 테스트 차트와 통계 차트를 생성하여 실제 테스트 결과를 반영하는 데 사용할 수 있는 여러 개의 프로버 스캔 (Prober Scan) 과 상세한 측정 데이터 (Detailed Measurement Data) 를 표시할 수 있습니다. 또한, 프로버 (Prober) 는 복잡한 로드 보드 시퀀스를 실행할 수 있으며, 여러 로드 보드에서 테스트를 병렬로 수행 할 수 있습니다. APT-8400 CE에는 고급 타이밍 및 동기화 기능이 있는 고속 프로세서가 장착되어 있습니다. 이를 통해 프로버는 다양한 피쳐를 병렬로 측정하여 매우 정확한 결과를 얻을 수 있습니다. 프로버 (Prober) 에 내장 된 고속 인식 머신 (High-Speed Recognition Machine) 을 사용하면 장치의 내부 논리를 신속하게 인식할 수 있으며, 이를 통해 테스트 프로세스가 더욱 효율적입니다. 전반적으로, TAKAYA APT 8400CE는 반도체 산업에서 가장 까다로운 테스트 응용 프로그램을 위해 강력하고 정확한 전문가입니다. 데이터 분석 (data analysis) 및 디스플레이 (display) 기능을 통해 매우 정확한 결과를 얻을 수 있습니다. 또한, 현장 온도 제어 (on-site temperature control) 및 다용도 로드 보드 시퀀스는 다양한 테스트 요구 사항에 적합합니다.