판매용 중고 TAKAYA APT 8400 #9254104

TAKAYA APT 8400은 ASIC (High-Pin-Count Application-Specific IC) 조사를 위해 설계된 고급 프로버입니다. 이 프로버에는 가변 간격 하중 프레임 및 TS Manufacturing의 세계적으로 유명한 XYZ 프로브 단계 (Probe Stage) 가 포함되어 고급 시력 및 자동 정렬 시스템 (Advanced Vision and Automated Alignment System) 을 개선합니다. 프로버 (Prober) 의 독특한 설계는 최고 수준의 정확성과 신뢰성이 필요한 기술 노드 (Technology Nodes) 에 적합한 솔루션입니다. 프로버 (Prober) 의 가변 간격 프레임 (Variable Gap Frame) 설계를 통해 설정 및 작동이 쉽고, 피치와 프로브 핀의 높이를 빠르고 정확하게 조정할 수 있습니다. 초저소음 XYZ Probe 단계는 서브 미크론 해상도를 특징으로하여 매우 높은 정확도 프로브를 가능하게합니다. 고주파 프로브도 지원됩니다. 자동 베이지안 샷 정렬 시스템 (automated bayesian shap alignment system) 은 최소한의 교정 시간으로 정확한 결과를 제공하여 좁은 설계 공차를 조사하는 데 이상적인 솔루션입니다. Probe의 기본 측정 기능을 능가하는 Probe의 정렬을 지원합니다. 비전 시스템 (Vision System) 을 사용하면 빠른 픽과 플레이스 (Place) 작업뿐만 아니라, 프로버에 장치를 자동으로 삽입할 수 있습니다. 8400 은 압력 (pressure) 과 전류 (current) 를 독립적으로 제어할 수 있는 다양한 프로세스 제어 기능을 갖추고 있습니다. 유연한 조정 설정을 사용하여 프로버 (Prober) 는 다양한 프로브 카드와 기판을 수용 할 수 있습니다. 또한 높은 핀 카운트 장치를 테스트하기위한 소형, 고밀도 프로빙 영역이 특징입니다. 요약하자면, APT 8400은 고핀 카운트 ASIC (high-pin-count ASIC) 를 예측할 때 정확성과 신뢰성을 높이도록 설계된 고급 전문가입니다. 여기에는 가변 간격 로드 프레임, 매우 정확한 XYZ 프로브 단계, 고급 비전 및 자동 정렬 시스템, 다양한 프로세스 제어가 포함됩니다. 소형 고밀도 프로빙 영역과 결합된이 프로버 (Prober) 는 소형 또는 기술 도전 장치를 테스트하는 데 이상적입니다.