판매용 중고 TAKAYA APT 8400 #9209911

TAKAYA APT 8400 (TAKAYA APT 8400) 은 프로브 크기를 조작하는 데 사용되는 전동식 XY 단계, 수직 높이를 변화시키는 Z축 단계 및 프로브 팁을 잡아 배치하는 데 사용되는 진공 도구 (vacuum tool) 를 포함한 프로브 암 (probing arm) 으로 구성된 집적 회로의 증명자입니다. 이 검사는 고주파 스캔이 가능하며, 트랜지스터 게이트 누출 (transistor gate leakage), 짧은 회로 전류 (short circuit current), 개방형 저항 (open resistance) 과 같은 전기 매개변수를 빠르고 정확하게 측정하고 기록 할 수 있으므로 대규모 집적 회로를 검사하는 데 이상적입니다. APT 8400에는 시각 검사 및 프로브 정렬을위한 CCD (Charge Coupled Device) 카메라가 있으며, 프로브 암은 스캐닝을위한 프로브 팁의 빠르고 쉬운 그립 및 위치를 제공합니다. 프로버 (Prober) 에는 프로브 팁의 독립적 인 미세 포지셔닝을위한 3 개의 축 단계가 있으며, 오버 드라이브, 손상 및 외곽 프로브를 탐지합니다. TAKAYA APT 8400 (TAKAYA APT 8400) 은 다양한 처리량 설정을 허용하며 안정적이고 안정적인 기본 플랫폼을 제공합니다. Prober의 소프트웨어는 사용이 간편한 GUI (Graphical User Interface) 를 통해 다중 프로토콜 실험 설정, 통계 분석, 보고서 저장, 프로토콜 사용자 정의 등의 작업을 수행할 수 있습니다. 또한, APT 8400은 자동 보정 및 Probe 연속성 검사를 통해 IC 제작을 위한 매우 정확한 테스트 환경을 제공합니다. 통합된 XYZ 변환 단계를 갖춘 TAKAYA APT 8400 (TAKAYA APT 8400) 은 경제적이고 컴팩트한 패키지 내에서 탑재된 집적 회로의 빠르고 정확한 조사 및 테스트를 위한 탁월한 선택입니다.