판매용 중고 TAKAYA APT 8400 CD #9035123

TAKAYA APT 8400 CD는 고체 표면 및 나노 스케일 시스템의 전기 특성 연구에서 서브 나노 미터 해상도를 달성하도록 설계된 스캐닝 터널링 현미경 (STM) 프로버입니다. 이 시스템은 고해상도 스캐닝 (scanning) 현미경을 활용하여 원자 척도의 정확한 측정 및 이미징을 가능하게 합니다. APT 8400 CD는 정밀도 (precision) 와 해상도 (resolution) 뿐만 아니라 고급 연구를 위해 향상된 전기 격리 및 냉각 기능을 제공하는 독특한 디자인을 사용합니다. 프로버 (Prober) 의 디자인은 정밀 단계에 부착 된 STM 헤드 어셈블리 (STM Head Assembly) 로 구성되며, 구성 요소는 현미경 작동의 정확한 미세 튜닝 및 안정화를 허용합니다. 피에 조 (piezo) 구동 x 및 y 축과 z축 접근 방식은 3 차원 모두에서 제어 된 움직임을 허용합니다. 프로버의 피에조 구동 샘플 로테이터 (piezo-driven sample rotator) 및 z축 접근법은 회전 및 샘플 -z 움직임을 보완하여 드리프트 및 진동 노이즈를 모두 줄입니다. 이 정밀도와 안정성의 조합은 TAKAYA APT 8400 CD의 뛰어난 성능을 제공하며 z 방향으로 0.2 nm, xy 방향으로 0.4 nm의 해상도를 달성 할 수 있습니다. 이 Prober에는 전용 신호 증폭기, 저소음 프리앰프, DSP 컨트롤러, 고급 소프트웨어 제어 등 원활한 작동을 보장하는 다양한 중요 전자 장치 (Critical Electronics) 가 장착되어 있습니다. DSP 컨트롤러는 컴퓨터 제어 전압 조정기와 함께, STM 측정을 방해할 수 있는 탈락 소음을 줄입니다. 또한, Prober의 저소음 환경과 DSP 컨트롤러의 신속한 응답은 안정적인 데이터 획득을 가능하게 합니다. 프로버는 또한 다양한 기능을 통합하여 STM 측정의 정확성과 반복 성을 향상시킵니다. 내부 피드백 루프 (feedback loop) 는 최대 100Hz의 데이터 속도로 팁 샘플 상호 작용을 모니터링하여 팁/샘플 상호 작용을 안정화하고 접촉 노이즈를 줄입니다. 자동화된 팁 접근 방식 및 스캐닝 기능은 정확하고 반복 가능한 측정을 보장합니다. 전반적으로, APT 8400 CD 프로버는 나노 미터 스케일에서 전기 특성의 정확하고 정확한 측정을 제공하는 정교한 장비입니다. 이 기능은 빠른 작동 및 낮은 소음 연산 (low noise operation) 과 결합하여 높은 정확도와 반복성을 제공합니다.