판매용 중고 SPEA 4060 #9203910

SPEA 4060은 반도체 테스트를 위해 설계된 고정 프로버입니다. 이 제품은 빠른 스왑 마이크로 조작기 (micro-manipulator) 장비를 장착하여 테스트 기판을 빠르고 정확하게 처리 할 수 있습니다. 이 프로버는 소형 IC 칩에서 웨이퍼 (wafer) 까지 다양한 테스트 기판을 수용 할 수 있으며, 직경이 최대 150mm 인 기판을 처리 할 수 있습니다. 또한, 프로버 (Prober) 는 6micron의 높은 포지셔닝 정확도와 고속 스캐닝 기능으로 인해 여러 기판을 신속하게 테스트할 수 있습니다. 이 검사는 APR (Automatic Position Registration) 및 향상된 비전 시스템 (Enhanced Vision System) 과 같은 여러 가지 고급 기술을 갖추고 있습니다. APR (APR) 은 테스트 주기에 필요한 정렬 이터레이션 수를 줄이며, 시력 단위 (vision unit) 는 물체 모양을 인식하여 프로브를 정확하게 배치합니다. 또한, 프로버 (Prober) 는 기판과 프로브 사이의 접촉력을 조정하는 고정밀 압력 막대 머신을 특징으로합니다. 이것 은 기판 과 "프로브 '사이 의 안정적 인 전기 연결 을 보장 해 주는데, 이것 은 정확 한 전기 측정 에 필수적 이다. 또한 자가 테스트 모드 (self-test mode), 자동 전기 매개변수 인식 (automated recognition of electrical parameters), 운영자 개입 없이 결과를 기록하고 저장할 수 있는 기능 등 고급 테스트 기능을 지원합니다. 또한 테스트가 완료된 후 사용자에게 다양한 데이터 조작 (예: 그래프 플로팅, 분석, 결과 비교) 을 사용할 수 있습니다. 이 검사는 자동 테스트 시스템 (automated test system) 에 통합되도록 설계되었으며, 다양한 액세서리 (accessory) 를 제공하여 다른 시스템과의 연결을 용이하게 합니다. 액세서리에는 PCB 어댑터, 장치 홀더 및 고정장치 플래터가 포함됩니다. 또한, 프로버 (Prober) 인터페이스는 다양한 소프트웨어 프로그램과 호환되므로 사용자가 특정 요구 사항에 따라 테스트 설정을 사용자 정의할 수 있습니다. 전체적으로, 4060은 매우 다양한 기능과 기능을 제공하는 고정밀도, 고성능 전문가입니다. 자동 테스트, 빠른 스왑 마이크로 조작 장치, 고급 비전 자산, 광범위한 액세서리 (accessory) 및 인터페이스 (interface) 를 통해 모든 반도체 어플리케이션에 적합합니다.