판매용 중고 SPEA 4060 S2 #9282914

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제조사
SPEA
모델
4060 S2
ID: 9282914
Flying probe tester With bottom side moving head Working hours: 100 P/N / Description 4060s2M BU500 / 4060s2 Manual loading base unit, (4) top moving heads LCK 230 / Board locking mechanism, automatic lock (12 clamps), automatic width adjustment set YAICT 320FP / Motor for BSMH, for 4060s2 M L2FLY R120 / ICT Instruments unit, dual 4 quadrants DC source ±10V/±100mA, ±50V/±100mA, DVM L2BP R120 / Leonardo OS2 FLY Execution AS 6 / Leonardo OS2 Backplane JCS 10 / Test area extension to 686 x 600 mm (27x23"), top side, BSMH compatible with system setup OPS 450 / Open pin test, junction scan OPS 550 / Open pin test - Electroscan on axis 1 & 4 top OPS 560 / Open pin test - Electroscan on axis 5 bottom side moving head ESV 100 / Open pin test - Electroscan on axis 6 bottom side moving head PRT 60 / Electrical & pneumatic energy saving function DK 115 / Internal graphic printer, 24 lines/sec, USB HLD 11 / Base diagnostic tool for FP s2 PRD USA S2 / Stand for monitor, keyboard and printer MSD 120 / Standard system pre-configuration, for 4060s2 SPS 15 / Motorized sliding door, for 4060 M/SL AUS 10 / System power supply, three phase, 208V, for FPs2 CTI 310 / Auxiliary AC sockets, qty 3, 220V, CE BSMH 261 / Connector tester interface, up to 576 TP, for 4060s2 PKB 400 / Bottom side moving heads, 2 heads, optical alignment module with color camera, for LCK 200 series YASCA 64EC / 2x Linear Z axes for bottom side moving heads, for 4060s2 STO 100 / Analog matrix, 64ch, 4/8rows, 120V, 1A, extendable with digital channels, external connection, test interface, for FPS2 LEO2 GOLD FLY / Resistance short test SSD 20 / Leonardo OS2 Suite Fly - Gold - R1.10 1SM 100 / SPEA dongle for LAN installation OPT 400 / Call center support LTM 100 / Automatic optical inspection, alignment, rotation, presence, optical character verify LTA 100 / Laser test module, Accuracy 0.01mm, Spot Ø 0.07mm.
SPEA 4060 S2는 자동 반도체 웨이퍼 처리 프로버입니다. 이 제품은 집적 회로에 대한 테스트 및 굽기 (Burn) 작업의 요구를 충족할 수 있도록 설계되었으며, 중대형 (Medium) 또는 고밀도 (High-Density) 접촉이 있는 IC 또는 미세 (Fine) 기능 해상도에 중점을 둡니다. 4060 S2 (4060 S2) 는 이중 축 설계를 특징으로하며, 프로버의 긴 축을 따라 이동하는 웨이퍼 처리 암 (wafer-handling arm) 과 횡축을 따라 이동하는 접촉 암 (contact arm) 이 있습니다. 이 이중 축 시스템을 사용하면 접촉 암의 정확한 위치를 지정하여 정확한 프로브를 보장할 수 있습니다. 프로버 (Prober) 는 또한 패턴 인식 (Pattern Recognition) 기능을 갖추고 있어 접촉부 (Contact Arm) 에 웨이퍼를 효율적으로 정렬 할 수 있습니다. 이 고급 기능을 사용하면 다양한 웨이퍼 크기와 모양 간에 쉽게 전환할 수 있습니다. 또한 SPEA 4060 S2 는 통합 pass/fail 보고 기능으로 설계되어 운영 라인 테스트의 효율성을 향상시킵니다. 전문가는 또한 고급 안전 (Advanced Safety) 기능을 제공하여 프로세스가 전체 프로세스에 영향을 미치지 않으면서 안전하고 정확하게 수행되도록 합니다. 이 Prober에는 터치 안전 (Touch Safe) 스위치가 장착되어 있습니다. 즉, 사용자가 Wafer 이동을 중단하여 연락처 오류 또는 기타 운영자 관련 결함 발생 가능성을 줄일 수 있습니다. 또한, 4060 S2는 또한 잠재적 인 접촉을 감지 할 때 활성화되는 전기 기계 안전 게이트를 특징으로합니다. 성능 측면에서 SPEA 4060 S2는 접점 당 최대 5 밀리초의 속도로 Probe 작업을 수행 할 수 있습니다. Prober의 디자인은 또한 최대 4.0mm 피크-피크 (peak-to-peak) 교정 정확도를 허용하여 개별 접점 측정에 탁월한 정확성을 제공합니다. 4060 S2 (4060 S2) 의 추가 기능에는 광범위한 힘 제어 매개변수 (force control parameter) 가 포함되어 있어, 사용자가 웨이퍼와 접촉하는 데 사용되는 힘을 조정하여 집적 회로나 웨이퍼의 손상을 최소화할 수 있습니다. 전반적으로, SPEA 4060 S2는 다재다능하고 정확한 반 도체 웨이퍼 처리 프로버이며, 중간 밀도와 고밀도 접촉 테스트에 적합합니다. 고급 패턴 인식 (pattern recognition), 통과/실패 (pass/fail) 보고 기능, 안전 기능 및 고성능 기능으로 테스트 및 굽기 작업에 적합한 탁월한 선택입니다.
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