판매용 중고 SPEA 4040 #9256464

SPEA 4040은 스위스 기반 테스트 장비 전문가 인 SPEA가 설계하고 제조 한 전문가입니다. 4040 Prober는 사용자가 Wafer 수준 구성 요소에서 빠르고 정확하게 측정하고 데이터를 추출할 수 있도록 하는 물리적 (Physical) 테스트 도구입니다. 다양한 패키지 크기, 다양한 레이어 유형, 여러 그라운드 레이어 등 다양한 웨이퍼 (wafer) 를 지원합니다. SPEA 4040은 정확도가 높고 최소/최대 테스트 시간이 짧아 대용량 (high-volume) 생산에 적합합니다. 4040 prober에는 X, Y 및 Z 축에서 웨이퍼를 이동할 수있는 회전 XY 단계가 제공됩니다. 내장형 비전 시스템 (Vision System) 을 통해 여러 레이어와 웨이퍼 유형에 걸쳐 높은 위치의 정확성을 구현할 수 있습니다. 또한 SPEA 4040에는 웨이퍼의 정확한 위치를 모니터링하고 이상 항목을 신속하게 찾을 수 있는 고해상도 LCD 디스플레이가 내장되어 있습니다. 프로버는 또한 저항, 전류, 온도, 전력, 전압 등 여러 전기 매개변수를 감지, 측정 및 분석 할 수 있습니다. 또한 데이터 획득 하드웨어와 Wafer 자동 테스트를 지원하는 소프트웨어가 포함되어 있습니다. 이 자동화된 테스트 시스템은 수작업 테스트, 시간 및 노력을 줄일 필요가 없습니다. 4040 Prober는 오픈 플랫폼 (Open Platform) 설계를 통해 외부 구성 요소 또는 소프트웨어를 손쉽게 사용자 정의하고 통합할 수 있습니다. 사용자 입력이 최소화되고 고객 편의적인 피드백을 제공하는, 사용자에게 친숙한 운영체제를 갖추고 있습니다. SPEA 4040 Prober는 품질 관리 (Quality Control), 제품 검증 (Product Validation), 장애 진단 테스트 (Failure Diagnostics Testing) 등 다양한 제조 응용 프로그램에서 사용하기 위한 것입니다. 또한 다양한 구성 요소 패키지 (component package) 와 호환되므로 다양한 애플리케이션에 적합합니다. 전반적으로, 4040은 SPEA가 설계 한 신뢰성, 정확성, 사용자 친화적 인 프로버로, 반도체 업계의 더욱 빠르고 정확한 웨이퍼 테스트에 대한 요구 사항을 충족시킵니다. 이 제품은 높은 수준의 유연성과 성능을 제공하므로, 엔지니어와 기술자가 다양한 웨이퍼 (wafer) 에 대한 전기적 매개변수를 빠르고 정확하게 분석할 수 있습니다.