판매용 중고 SPEA 4040 #9224342

SPEA 4040은 다양한 반도체 웨이퍼에서 전기와 결함을 테스트하도록 설계된 프로버 (Prober) 입니다. 이 검사는 고속 테스트를 수행할 수 있으며, 시간당 최대 1 만 웨이퍼의 처리율을 자랑합니다. 또한 독특한 곡면 손가락 프로브 암 (curved-finger probe arm) 덕분에 작고 복잡한 구성 요소를 테스트하는 데 능숙합니다. 4040 (4040) 은 모든 프로브 및 기판 이동이 정확하게 달성되는 고급 모션 컨트롤 장비를 갖춘 고성능 프로버 (Prober) 입니다. 또한 시간당 1 천 웨이퍼를 초과하는 속도로 각 배치에서 최대 2 백 50 개의 진공 호환 기판을 처리 할 수있는 4 개의 서보 모터 수직 스테이지가 있습니다. 프로버 (Prober) 는 또한 완벽하게 자동화된 Probing 및 테스트 기능을 지원하는 고급 Prober Controller를 제공하여 대용량 테스트 요구에 이상적입니다. 또한 이 컨트롤러는 강력한 패턴 기반 시스템 (pattern-based system) 을 통해 사용자가 테스트 매개변수 (testing parameters) 와 각 웨이퍼에 대한 특정 테스트 시퀀스 (test sequence) 를 설정할 수 있습니다. SPEA 4040 prober에는 100, 50 밀리미터부터 300 밀리미터까지 웨이퍼 직경을 처리 할 수있는 강력한 자동 웨이퍼 핸들러가 있습니다. 이 프로버에는 멀티 레이어 스테인리스 스틸 카세트 홀더와 함께 제공되며, 이를 통해 최대 4 개의 카세트를 동시에 적재 및 언로드할 수 있습니다. 4040 Prober의 주요 특징은 Adaptive Terminal Detection 유닛으로, 테스트 표면에서 Probe 터미널의 정확한 위치를 제공하도록 설계되었습니다. 이 기계는 테스트 표면을 측정하고 필요한 조정을 통해 안정적이고 정확한 터미널 배치 (terminal placement) 를 보장합니다. 프로버 (Prober) 는 또한 프로브 및 어댑터 배열로 사전 구성된 맞춤형 Probe 카드로 제조됩니다. 이러한 카드는 손쉬운 설치와 안정적인 테스트 알고리즘을 보장하도록 설계되었습니다. 또한, 프로버 (Prober) 는 추가 배선 및 하네스를 포함한 다른 액세서리 호스트와 함께 구입할 수 있습니다. 이 액세서리는 도구에 쉽게 구성하고 통합 할 수 있습니다. 결론적으로, SPEA 4040은 고속 테스트와 프로브 터미널의 정확한 배치가 가능한 고성능 프로버입니다. 고품질 구성요소를 갖춘 이 Prober는 대용량 테스트 요구에 적합한 선택입니다.