판매용 중고 SPEA 4040 #9177846
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ID: 9177846
빈티지: 2006
Flying probe tester
Test area: 50 x 400 mm (20" x 16") top side
Analog relay scanner
Power generator V/I booster: 4Q, 30 V, 3 A
Voltage generator V/l booster: 4Q, 80 V, 1 A
Precision generator V/l driver: 4Q, 10 V, 1 A
Double fixed power supply: 2 x 5 V, 5 A
Fourfold: 2 x 12 V, 1.8 A, 2 x 15 V 1.8 A
External graphic printer: 24 Lines/Second
Automatic system interface:
SBL Prepared for 1040 points
System connection:
Local Area Network (LAN)
With RJ45
Flying probe:
Driver and interface LAN
2006 vintage.
SPEA 4040은 집적 회로의 전기적 특성을 측정하기 위해 설계된 간섭계 전문가입니다. 프로버는 간섭계 (interferometry) 를 사용하여 테스트 중인 장치 (DUT) 에서 전자기 신호를 가져온 다음, 장치 테스트에 필요한 측정을 수행합니다. 프로버는 차등 전압, 직류 측정, 일시적 전류 측정, 전환 속도, AC 분석 및 전기 노이즈를 포함하여 DUT의 전류 및 전압 신호를 모두 측정 할 수 있습니다. 검사는 다용도가 높으며, 테스트 프로세스의 변화하는 요구를 쉽게 수용할 수 있습니다. 단일/다중 Probe 에서 최대 8 개의 Probe 까지 광범위한 테스트 구성을 제공하여 높은 채널 범위를 보장합니다. 또한, 정밀한 임피던스 측정 및 별도의 신호 격리를 제공하는 다양한 전원, 접지, 전압 신호로 구성 할 수 있습니다. 4040 에는 집적회로의 전기적 특성을 측정하는 전문적인 수준의 툴이 되는 다양한 기능이 포함되어 있습니다. 그 "소프트웨어 '는 매우 직관적 이며, 몇 분 내 에 정확 한 시험 결과 를 얻기 위해 빠르고 쉽게 사용 할 수 있다. 또한, 소프트웨어는 다양한 연결 옵션을 제공하여 인터넷을 통해 프로버 (Prober) 를 원격 제어할 수 있습니다. 또한, 프로버에는 DUT의 전류, 전압 및 일시적 값을 측정 할 때 가장 높은 정확도를 보장하는 정전식 감지 시스템이 내장되어 있습니다. 또한, 장치에는 나노초 단위의 펄스 너비로 조정할 수있는 임계 값 필터가 내장되어 있습니다. 이를 통해 회로의 동작을 보다 정확하게 제어 할 수 있습니다. SPEA 4040 은 내구성이 뛰어나고 신뢰성이 뛰어나 실습 환경과 운영 환경 모두에 이상적인 Prover 가 됩니다. 프로버 (Prober) 에는 안전한 처리 및 운송이 가능한 통합 보호 뚜껑이 포함되어 있으며, ESD 안전 환경에 쉽게 저장할 수 있습니다. 또한, 이 장치에는 DUT에 대한 우발적 손상을 방지하는 ESD 보호를 포함한 다양한 안전 기능이 포함되어 있습니다. 결론적으로 4040 은 집적회로의 성능, 전기적 특성을 측정하기 위한 훌륭한 도구다. 첨단 기능, 직관적인 소프트웨어, 내구성 (내구성) 설계를 통해 다양한 업계의 복잡한 회로를 테스트하고 측정할 수 있는 최적의 선택입니다. 이 "프로 '는 전자산업 에서 여러 가지 장치 에 널리 사용 되어 왔으며, 전기적 결과 의" 테스트' 와 측정 에 정확 한 도구 가 필요 한 전문가 들 에게 적극 권장 되고 있다.
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