판매용 중고 SPEA 4040 #9122143

SPEA 4040 Prober는 반도체 및 마이크로 일렉트로닉스 테스트와 같은 다양한 응용 프로그램에서 조사하는 데 사용되는 접촉 기반 테스트 도구입니다. 회로 기판 및 반도체 패키지 테스트와 HDI (High-Density Interconnect) 및 기타 특수 제품의 Probe에 널리 사용됩니다. 4040은 고정밀 포지셔닝 장비, 듀얼 축 모션 컨트롤, 프로그래밍 가능한 스캐닝 시스템을 갖춘 자동, 고정밀 프로버입니다. 단일 작업에서 최대 935 개의 Probe 를 지원할 수 있으므로 여러 Probe 를 빠르고 정확하게 테스트할 수 있습니다. 또한 Prober는 조정 가능한 공구 매개변수, 조정 가능한 Probe 위치 및 유연한 인터페이스 기능을 제공합니다. SPEA 4040 Prober는 정밀 검사 응용 프로그램을 위해 설계되었습니다. 여러 프로브 (Probe) 와 개별 프로브 (Probe) 를 동시에 테스트 할 수 있습니다. 이 도구에는 이중 축 동작 제어 장치가 있으므로 다양한 프로브 각도와 수직 (XY) 및 수평 (R) 이동이 가능합니다. Prober는 회로 보드의 고밀도 상호 연결, chiplet 및 Pin Grid와 같은 장치를 처리 할 수 있습니다. 이 툴은 또한 몇 가지 독특한 기능과 기술을 갖추고 있어 시장에서 가장 발전된 프로버 (Prober) 중 하나입니다. 병렬 고속 스캐닝 머신, 무접촉 활성 압력 센서, 고해상도 이미지 스캐너 등의 기능이 있습니다. 프로버 (Prober) 는 또한 필요에 따라 동작 속도를 자동으로 조정하여 작업에 소요되는 시간을 줄일 수 있습니다. 4040 Prober는 정확성과 속도를 위해 제작되었습니다. 최신 기술을 사용하여 설계되었으며, 이를 통해 높은 수준의 정확성과 안정성을 얻을 수 있습니다. 또한, 여러 프로브 (Probe) 를 빠르게 전환할 수 있으며, 프로브 (Probe) 모양과 정렬을 자동으로 인식할 수 있습니다. SPEA 4040은 정확한 접촉 및 프로브 이미지가 필요한 응용 프로그램에 적합합니다. 4040은 정밀 접촉 기반 테스트를 위해 설계된 고급 전문가입니다. 회로 기판의 고밀도 상호 연결, 칩 패키지, 핀 그리드 (Pin Grid) 를 처리하기 위한 탁월한 선택입니다. 이 도구는 조정 가능한 공구 매개변수와 프로그래밍성 (programmability) 을 제공하며, 여러 개의 프로브를 한 번에 스캔할 수 있으며, 정확도와 속도를 향상시키는 기능을 갖추고 있습니다. 신뢰할 수 있는 테스트 툴로서, 다양한 애플리케이션에 적합합니다.