판매용 중고 SPEA 4040 #293816160

SPEA 4040은 반도체 및 전자 제품 제조에서 매우 정확하고, 대량 검사 및 테스트를 위해 설계된 고급 프로브 런칭 (Probe Launching) 장비입니다. SPEA 가 개발한 4040 은 열, 전기, 음향, 광 검사 등 다양한 프로빙 기술을 지원합니다. 이 시스템은 가장 까다로운 대용량 (high-volume) 테스트 요구 사항을 안정적이고 정확하게 처리하도록 설계되었습니다. SPEA 4040은 4 개의 별개의 동작 축이있는 모듈 식 설계 플랫폼에서 작동합니다. 선형 X축은 DUT (Device-Under-Test) 를 가로질러 프로브 유닛을 이동시키고, Z축은 프로브 머신의 수직 이동과 장치 상호 연결을 제어합니다. 두 개의 각도 축-회전 X축 및 Y축을 사용하면 정확한 바늘 위치와 정렬이 가능합니다. 또한 DUT 의 수동 로드/언로드가 필요 없으므로 효율적인 테스트를 용이하게 하기 위한 통합 로봇 (Integrated Robotic) 처리 툴도 포함되어 있습니다. 4040 자산의 프로브 디자인은 매우 정확하여 미세한 반도체 장치 (microscopic semiconductor devices) 및 기타 부품에 대한 안정적인 검사 및 테스트를 보장합니다. 바늘 기반 입출력 (IO) 접촉 모델은 바늘 끝을 장치의 접촉 패드에 자체 정렬하여 최대 정확도를 제공합니다. 또한, 장비는 정확한 집적 회로 측정을 위해 빠른 병렬 펄스 (parallel pulse) 를 기반으로 정확한 내부 교정 알고리즘을 사용합니다. 프로브 발사 시스템은 정확한 다중 레벨 진동 제어 장치 (multi-level vbration control unit) 를 통합하여 측정 정확도를 더욱 향상시킵니다. 컴퓨터는 각 Probe 실행에서 데이터를 캡처하고 자동으로 위치를 조정하여 최상의 결과를 얻을 수 있습니다. 또한 가상 CLI (Command Line Interface) 와 직관적인 사용자 인터페이스를 통해 빠르고 정확하게 설치 및 작업을 수행할 수 있습니다. 안전 측면에서 SPEA 4040은 UL, IEC 및 CE 표준을 준수하며, 어떠한 환경에서도 안전한 운영 및 안정적인 운영을 제공합니다. 또한, 통합 레이저 포인터는 정확한 프로브 배치를 위해 쉽게 시각적 정렬을 제공합니다. 또한, 고급 플랫폼 (advanced platform) 은 매우 복잡한 장치 상호 연결을 처리하여 안정적인 데이터 전송과 정확한 테스트 결과를 보장합니다. 4040은 대용량, 높은 정확도 테스트를 자동화할 수 있는 견고한 토대를 제공합니다. 이 자산은 여러 축의 동작, 정밀한 프로빙 메커니즘, 통합 로봇 처리 도구 (Integrated Robotic Handling Tool) 를 사용하여 복잡한, 미세한 반도체 장치 및 전자 제품을 검사하고 테스트하는 데 이상적인 솔루션입니다.