판매용 중고 SPEA 4040 #293807496

SPEA 4040은 반도체 웨이퍼 테스트를 위해 설계된 최첨단 전문가입니다. 4040 Prober는 고급 TIP (Tip Alignment) 및 로봇 처리 기능을 갖추고 있어 고급 Wafer 테스트 어플리케이션에 이상적인 솔루션입니다. 프로버 (Prober) 는 최대 ± 0.02 m 의 반복 가능성과 함께 빠르고 정확한 포지셔닝을 제공하여 고수율 수율 프로브 응용 프로그램에 적합한 선택입니다. 이 Prober는 다양한 기능과 기능을 제공하는 3 가지 모델 (표준, 고속 및 다중 기능) 로 제공됩니다. 표준 모델에는 완전 통합 독립 스테이션 (Independent Station) 이 있으며, 이 스테이션은 자동 다이 로딩 및 언로드, 배치 프로브 (Batch Probing) 에 사용될 수 있습니다. 또한, 표준 모델에는 특허 받은 3 선 테스트 모듈이 포함되어 있으며, 배치 프로브 중에 완벽한 유연성을 제공합니다. 고속 모델에는 이중 존 (Zone) 작업이 포함되어 있어 처리량이 빠르고 주기 시간이 단축됩니다. 이 모델은 또한 최대 ± 0.002 "m '의 반복성을 갖춘 고정밀 포지셔닝 시스템을 갖추고 있습니다. 마찬가지로, 다기능 모델은 통합 EGA 및 자동 노즐 보정 시스템을 제공하여 효율적인 데이터 수집을 지원합니다. 또한, 프로버는 수동, 반자동 및 자동 모드로 작동 할 수 있으며, 처리 속도와 정확도를 향상시킬 수 있습니다. SPEA 4040은 또한 다양한 기판 및 프로브 팁을 지원하여 매우 다재다능합니다. 호환 가능한 웨이퍼 유형 (wafer type) 및 지름 (diameter) 과 호환 가능한 프로브 및 프로브 카드 (Probe Card) 목록이 제공되어 광범위한 특정 웨이퍼 프로브 응용 프로그램이 가능합니다. 프로버 (Prober) 에는 지능형 센서가 장착되어 있어 고정밀 작동이 가능하며, 조절 가능한 오프셋 (Offset) 및 속도 제어 (Speed Control) 와 같은 추가 기능이 있어 교정과 조정이 용이합니다. 또한, 프로버 (Prober) 는 직관적 인 사용자 인터페이스와 함께 제공되므로 사용자가 프로브의 기능에 직접 액세스하고 제어할 수 있습니다. 요약하자면, 4040 Prober는 안정적이고 효율적인 Prober로, 웨이퍼 테스트 어플리케이션을 위한 다양한 기능과 기능을 제공합니다. 고급 팁 정렬 (tip alignment) 과 로봇 처리 (robot handling) 를 통해 이 프로머는 빠르고 정확한 포지셔닝을 보장하므로 고정밀 Probing 및 데이터 수집에 이상적입니다. 또한, 직관적인 사용자 인터페이스뿐만 아니라 다양한 기판 및 프로브 팁 (Probing Tip) 과의 호환성을 통해 SPEA 4040 이 모든 Wafer Testing 애플리케이션에 적합한 선택이어야 합니다.