판매용 중고 SPEA 4040 #293670030

SPEA 4040은 소형 웨이퍼 및 MEMS 및 Nano 전자 구조와 같은 초소형 구조를 포함한 미세 구조를 조사하도록 설계된 Prober입니다. 4040은 다양한 기능을 갖춘 다재다능하고 정확한 증거입니다. 최대 두께 3mm로 최대 200mm 직경의 웨이퍼를 처리 할 수 있습니다. 프로버는 전기 측정 (electrical measurements) 과 데이터 수집 (data collection) 과 같은 다양한 테스트 기능을 수행하도록 프로그래밍 될 수 있습니다. 이 Prober는 자동화된 테스트 및 데이터 수집을 지원하는 정교한 소프트웨어 (SW) 패키지를 사용하여 작동합니다. 소프트웨어는 특정 측정 및 데이터 수집 요구 사항을 충족하도록 사용자 정의할 수 있습니다. 이 소프트웨어는 또한 프로 버 (Prober) 가 안전하게 작동하고 테스트된 미세 구조물에 대한 잠재적 손상을 방지하는 안전 기능 (Safety Features) 을 내장하고 있습니다. SPEA 4040 에는 고급 고해상도 비전 (high-resolution vision) 시스템이 장착되어 있어 미세 구조를 정확하고 반복적으로 측정할 수 있습니다. 비전 시스템에는 웨이퍼 매핑 및 뒤틀기, 3D 측정 및 이미징, 자동 정렬 등의 여러 기능이 포함되어 있습니다. 프로버는 구성에 따라 4 또는 5 축의 이동을 갖습니다. 각 축은 모터에 의해 구동되며 컴퓨터가 제어됩니다. 이를 통해 테스트를 위해 미세 구조를 정확하고 반복적으로 포지셔닝 할 수 있습니다. 프로버 (Prober) 에는 특수 프로브 팁이 장착되어 있어 프로버 (Prober) 가 미세 구조 영역에 접근하기 어렵다. 프로브 팁 (Probe Tip) 은 다양한 웨이퍼 기술에 맞게 다양한 대체 프로브로 교환 될 수도 있습니다. 4040은 또한 최대의 신뢰성과 긴 서비스 수명을 위해 설계되었습니다. 이 Prober는 품질 (Quality) 구성 요소를 사용하여 제작되었으며 까다로운 운영 요구 사항을 충족하도록 설계되었습니다. 설치 시간 (set-up and measuring time) 을 줄여 다양한 테스트를 병렬로 실행할 수 있습니다. 프로버 (Prober) 는 또한 전체 작업 과정에서 정확성을 유지하도록 설계되었습니다. SPEA 4040은 미세 구조 테스트를 위해 설계된 고급 전문가입니다. 고급 비전 시스템, 자동 테스트, 다양한 프로빙 기술이 특징입니다. 신뢰할 수 있으며 긴 서비스 수명을 위해 설계되었습니다. 4040은 다양한 웨이퍼 기술에서 미세 구조를 테스트하는 데 이상적인 솔루션입니다.