판매용 중고 SIGNATONE S-250 #9363245

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SIGNATONE S-250
판매
제조사
SIGNATONE
모델
S-250
ID: 9363245
웨이퍼 크기: 6"
Probe station, 6" With BAUSCH & LOMB microscope.
SIGNATONE S-250 prober는 다양한 프로빙 응용 프로그램을위한 솔루션입니다. 온도 (temperature) 및 기계적 컴포넌트 (mechanical component) 에서 다양한 구성 옵션을 사용할 수 있으므로 구성 요소, 웨이퍼 (wafer) 및 기타 장치 샘플을 테스트하기 위한 고유한 설정을 만들 수 있습니다. 다양한 어플리케이션에서 사용하도록 설계된 S-250은 원형 프로브 헤드 (circular probe head) 디자인으로 직경 최대 12 인치의 장치 샘플을 수용합니다. 테이블 표면은 프로버 작동을 위해 안정적이고 안전한 베이스를 제공하도록 설계되었으며 다양한 장치를 수용하기 위해 X 및 Y 축에 12 인치 (12 인치) 의 이동 범위를 갖습니다. 몇 가지 정확도가 높은 프로브 중에서 선택할 수 있는 SIGNATONE S-250은 안정적이고 일관된 결과를 제공하면서 업계 표준 테스트 절차를 수용할 수 있습니다. 또한 다양한 특수 소프트웨어 패키지와 함께 사용할 수도 있고, 사용자 지정 (custom) 기능을 제공하기 위해 업데이트할 수도 있습니다. 또한, 정교한 제어 시스템을 통해 사용자는 테스트 프로세스를 실시간으로 모니터링할 수 있습니다. 기계적 구성 요소 측면에서 S-250은 X 및 Y 동작에서 +/- 0.8 미크론, Z 동작에서 +/- 5 미크론으로 뛰어난 정확도를 갖습니다. 또한 최대 선형 속도는 6.5 m/s, 최대 전송 속도는 20 m/s입니다. 또한, 프로버는 최대 250mm 범위의 더 큰 샘플을 위해 선택적 마운팅 시스템 (mounting system) 으로 구성 할 수 있습니다. SIGNATONE S-250 prober는 또한 사용자에게 최대 100 ° C의 선택적 온도 범위를 제공합니다. 이는 높은 온도에서 구성 요소를 테스트하는 데 이상적입니다. 압력 관리 시스템 (Pressure Management System) 은 온도 범위에서 고체 작동을 위해 설계되었으며, 신뢰할 수있는 테스트 결과를 위해 조절 가능한 자체 감쇠 공압 프로브가 있습니다. S-250 Prober는 Wafer Testing, IC Bonding, Die Testing 등 다양한 테스트 애플리케이션을 위한 안정적이고 강력한 솔루션입니다. 사용자 지정 가능한 구성과 온도 조절 (옵션) 을 통해 중요한 테스트 작업에 탁월한 성능과 정확성을 제공합니다.
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