판매용 중고 SIGNATONE S-250-5 #38058
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ID: 38058
Submicron analytical probe
Bausch & Lomb microzoom II
(2) Eye pieces are 10x
(3) Objective lenses are 2.25x, 8x and 25x
Lamp housing:
X Y Z Stage adjustment
(5) Probe holders
Currently de-installed.
SIGNATONE S-250-5는 다양한 테스트, 연구 및 제조 기능을 제공하는 모든 기능을 갖춘 전문가입니다. 최신 정밀 기술로 설계된 S-250-5 는 다양한 어플리케이션을 위한 신뢰할 수 있는 테스트 솔루션입니다. 이 Prober에는 자동 테스트 속도, 힘 제어, 여러 Probe 유형, 동적 터널링 설정 (Dynamic Tunneling Setup) 등 다양한 기능이 장착되어 있습니다. 또한 직경 0.7mm에서 200mm 사이의 전체 범위 웨이퍼 프로브를 지원합니다. 따라서 사용자는 거의 모든 크기의 다이/패드를 정확하게 테스트할 수 있습니다. SIGNATONE S-250-5는 또한 컴팩트 한 디자인과 가벼운 구조를 제공합니다. 최대 3 개의 광학 현미경과 4 개의 프로브 카드를 지원하는 프로버 (Prober) 는 실험실과 제조 공장이 작업 공간 효율성을 극대화하는 공간 절약형 디자인을 갖추고 있습니다. 또한, 수직 구성은 직원을위한보다 인체 공학적 작업 공간에 기여합니다. 프로버는 웨이퍼 피어스를 줄이고 높은 프로브 정확도를 달성하도록 정밀하게 설계되었습니다. S-250-5 는 특수한 이중 강성 서스펜션 (dual-stiffness suspension) 메커니즘과 내부 케이블 관리 시스템을 통해 정확도를 극대화하고 진동과 소음을 최소로 줄여줍니다. 고급 Probe 모니터링 기능과 자동 레벨 (Auto Leveling) 기능을 활용하면 최신 상태에서도 세부적이고 정확한 진단 기능을 생성할 수 있습니다. 또한 Prober는 몇 번의 클릭으로 사용자에게 친숙한 GUI (Graphical User Interface) 를 제공합니다. 직관적인 인터페이스를 통해 사용자는 die-probe 설정 및 검토 데이터를 신속하게 조정할 수 있습니다. 결과적으로, 테스트 구성, 설정 및 수행이 쉬워집니다. SIGNATONE S-250-5는 효율적이고 강력하며 다양한 기능으로 모든 응용 프로그램을 처리 할 수 있습니다. 강력한 기능과 사용자 친화적인 경험을 통해 Wafer Testing, Rework, Troubleshooting Application에 이상적인 선택이 가능합니다. 생산, 실험실 및 연구 환경에 적합합니다.
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