판매용 중고 SIGNATONE S-1007 #293639829

SIGNATONE S-1007 Prober는 집적 회로의 자동 테스트를 위해 설계된 반도체 프로빙 장비입니다. 이 시스템은 가장 까다로운 제작 및 프로브 (Probing) 요구 사항을 충족하기 위해 소형 고속 패키지로 제공되는 최대 256 개의 테스트 사이트에 대한 연락처 (Contact) 및 비접촉 (Non-Contact) 프로브를 제공합니다. 이 장치는 복잡한 제조 프로세스에 필요한 DUT (device in test) 및 중간 구조를 모두 테스트 할 수 있습니다. SIGNATONE S1007 Prober는 고속 상호 연결 기계, 정교한 Probing/Contact Head, 자동 테스트 프레임 및 온도 조절 측정 시스템을 갖춘 테스트 장비의 최신 기술 발전을 통합했습니다. 최대 256 개 의 "테스트 '장소 의 넓은 표본 영역 으로, 여러 가지 반도체 장치 를 이용 하는 데 충분 하다. 프로브 (Probe) 카드의 고정밀, 빠른 응답 전자 설계는 각 장치의 전기 동작 및 성능을 정확하게 결정할 수있는 수단을 제공합니다. S-1007 Prober의 고해상도 (high-resolution) XY 테스트 테이블은 정확하고 안정적인 웨이퍼 정렬을 보장하는 반면, 자동 테스트 프레임은 웨이퍼 및 테스트 플레이트를 신속하게 로드 및 언로드할 수 있습니다. 추가된 정확도를 위해, 프로버의 온도 조절 환경은 신뢰할 수있는 테스트에 필요한 정확한 온도 값에서 테스트 영역을 유지합니다. S1007 Prober는 데이터 수집, 분석, 결과 표시를 위한 강력하고 구성 기능이 뛰어난 소프트웨어 제품군입니다. 이 툴은 광범위한 상호 연결 및 테스트 장치 부품 (interconnect and test device part) 라이브러리에서 테스트 컴포넌트 프로그래밍을 용이하게 하며, 이를 통해 장치 특정 응용 프로그램 시나리오에 대한 테스트 프로그램을 손쉽게 만들고 조정할 수 있습니다. 전반적으로 SIGNATONE S-1007 Prober는 반도체 장치의 클래스 선도 테스트에 이상적인 솔루션입니다. 강력한 기능, Probe 및 Testing 조건에 대한 정확한 제어, 프로그래밍 용이성, 고속 작동을 통해 많은 성공적인 IC 개발 및 프로덕션 프로세스에서 선호되는 도구가되었습니다. SIGNATONE S1007 Prober (SIGNATONE S1007 Prober) 를 사용하면 안정적이고 정확한 테스트 서비스를 제공할 수 있습니다.