판매용 중고 SIGNATONE CM-170 #9363189

SIGNATONE CM-170 prober는 집적 회로의 정확한 전기 측정을 위해 설계된 프로브 장비입니다. 양극성, MOS, BiCMOS 및 CMOS와 같은 다양한 기술을 위해 설계된 이 시스템은 모든 기능을 갖춘 마이크로 프로세서 제어 프로버와 접촉 검사 및 켈빈 프로브 기능을 결합합니다. 이 제품은 최대 8GHz 의 정확한 전기 측정값을 제공하며, 이를 통해 사용자는 고성능 집적 회로 (integrated circuit) 구조의 신호를 액세스하고 측정할 수 있습니다. 이 프로버는 소형, 인체 공학적 베이스, 기존 척, 카드 기반 프로세서 및 최대 2 개의 켈빈 프로브 (옵션) 로 구성됩니다. 베이스에는 웨이퍼 (wafer) 또는 다이 스캐닝 (die scanning) 및 교정 (calibration) 을위한 공압 위치 장치, 자동 패널 교환 기계 및 단일 다이 또는 웨이퍼 프로브를 수용하는 샘플 홀더가 포함됩니다. 부품에 쉽게 액세스할 수 있도록 프로버의 척 (chuck) 이 철거되고 외부 케이블 연결이 용이해집니다. 또한 프로브 작업 중 샘플의 열 전도가 낮습니다. 프로세서는 SIGNATOME CM-170 Prober에 대한 지능을 제공하며, 모든 구성 요소를 대화식으로 제어합니다. 측정 작업을 수행할 수 있는 다양한 PC 기반 응용 프로그램과 Probe 및 Trajectory Control 기능이 있습니다. 직렬로 프로그래밍 가능한 그래픽 인터페이스를 사용하면 측정 및 위치 매개 변수를 세밀하게 조정할 수 있습니다. 프로세서는 또한 샘플의 위치를 적절히 배치하기 위한 자동화된 웨이퍼 정렬 도구를 갖추고 있습니다. 켈빈 프로브 (옵션) 를 사용하면 높은 정확도의 저소음 접촉 측정을 수행할 수 있습니다. 이 프로브는 온도 표류 (temperature drift) 에 대한 전자 보상 회로 (electronic compensation circuitry) 와 동시에 강제 및 온도 판독 (sample temperature) 을 수행하는 집적 압력 센서를 특징으로합니다. 이를 통해 사용자는 다양한 환경에서 다양한 측정을 수행할 수 있습니다. SIGNATONE CM-170 prober는 생산 및 실험실 환경에 사용하도록 설계되었습니다. wafer delay testing, relative spread testing, memory testing, function 등의 다양한 애플리케이션에 적합합니다. 이 자산의 내장형 기능은 오늘날의 고성능 (HPO) 집적 회로를 전기적으로 테스트하는 데 매우 적합합니다.