판매용 중고 SENSARRAY 1501A-8-0608 #9144365

SENSARRAY 1501A-8-0608 prober는 다양한 고급 반도체 장치 테스트 및 프로브 응용 프로그램을 위해 설계된 고정밀 프로버입니다. 이 다목적 장비는 웨이퍼, 리드 프레임 또는 집적 회로 (IC) 를 포함한 다양한 기판을 테스트 할 수 있습니다. Prober의 핵심 기능은 고해상도 8 채널 디지털 플립 프로브 헤드입니다. 이 헤드는 0.065mm에서 하위 미크론 수준까지 고급 장치 아키텍처를 테스트하도록 설계되었습니다. 플립 프로브 헤드 (flip probe head) 는 다양한 환경 조건에서 장치 전류 또는 전압 특성을 뒤집고 캡처할 수 있습니다. 1501A-8-0608의 칩 레벨 프로빙 기능은 고급 특성화와 반도체 부품의 고속 테스트를 가능하게합니다. 고해상도 센서 어레이 헤드는 -35 ° C ~ + 150 ° C의 온도 조절도 특징입니다. 이 범위를 통해 정확한 온도 의존 장치 특성 (temperent-dependent device characteric) 을 측정하여 연산자가 점점 더 복잡한 장치에 대한 프로벨 정확도를 높이고 항복 할 수 있습니다. 온도 조절 (Temperature Control) 을 통해 프로빙 시스템은 넓은 온도 범위에서 안정적으로 작동하여 장치가 지정된 제한 범위 (Limit Range) 로 떨어지도록 할 수 있습니다. 프로버는 또한 맞춤형 40 위치 척 (chuck) 을 제공하여 테스트 시퀀스가 다른 여러 샘플을 동시에 테스트 할 수 있습니다. 또한 장치 프로브 (Probe) 와 척 (Chuck) 을 빠르고 신뢰할 수있는 교체 또는 수리 할 수 있습니다. 프로버 (Prober) 는 0.7mm ~ 1.5mm 리프트 스트로크를 가지고 광범위한 높이에서 반복 가능하고 정확한 이미지를 제공합니다. 기계의 리프트 스트로크 (lift stroke) 는 또한 작업 중에 기판을 선택해야 하는 횟수를 줄임으로써 연산자 편리성을 향상시킵니다. 이는 표면 오염을 줄이고, 프로세스의 전체 처리량 및 수율을 증가시킵니다. SENSARRAY 1501A-8-0608 prober는 대용량 생산을 위해 설계되었으며, 여러 기판의 자동 테스트를 지원합니다. 고정밀도 및 반복 가능한 성능은 자동화된 테스트 시스템뿐만 아니라, R&D 환경에서 높은 정확도와 수익률 어플리케이션에도 적합합니다.