판매용 중고 SEMIPROBE SA 12 #9171154
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ID: 9171154
Semi automatic prober, 12"
Microscope with lenses camera
Motorized movement (X, Y, Z)
For GPIB or USB controlled automatic stepping
Non-thermal chuck, 12''
2013 vintage.
SEMIPROBE SA 12는 나노 스케일 프로브 분야의 리더 인 SEMIPROBE가 설계하고 제조 한 프로버입니다. 이 프로버는 고속 (high speed) 과 높은 정확도로 다양한 집적 회로 (IC) 를 테스트하도록 설계되었습니다. SEMIPROBE SA-12의 중심은 Z-Axis, Theta-Axis 및 X-Axis의 3 가지 축으로 구성된 정밀 동작 시스템입니다. Z 축 (Z-Axis) 은 테스트 프로브를 수직 방향으로 이동시키고 정밀 모터에 의해 구동되어 초당 최대 10 미크론 (micron) 의 속도로 테스트 중인 IC를 스캔합니다. 세타 축 (Theta-Axis) 은 프로브를 미세하게 회전시켜 전체 360도 범위에서 장치 특성을 측정 할 수 있도록 합니다. 마지막으로, X-Axis는 테스트 대상 IC를위한 플랫폼을 제공하며 강력한 선형 모터에 의해 구동됩니다. 프로버 (Prober) 에는 또한 테스트 매개변수의 미세 튜닝을 허용하고 소음 간섭없이 개별 핀을 테스트 할 수있는 테오 압력 테스트 헤드 (theo-pressure test head) 가 포함되어 있습니다. SA 12에는 나노 스케일 정확도로 프로브가 가능한 정밀 마이크로 포지셔너가 내장되어 있습니다. SA-12 는 첨단 제어 알고리즘과 실시간 저항력 터치 감지 기술 덕분에, 1 초 안에 매우 복잡한 Probe 사이클을 수행할 수 있습니다. 정확한 결과를 얻기 위해 SEMIPROBE SA 12에는 프로브의 안정된 온도를 유지하는 고급 온도 보상 시스템 (Advanced Temperature Compensation System) 이 장착되어 있습니다. 이 온도 보상을 통해 검사는 높은 주변 온도에서 정확성을 유지할 수 있습니다. SEMIPROBE SA-12에는 과부하 방지, ESD 보호, 정적 차폐 등 다양한 안전 기능이 장착되어 있습니다. SA 12는 매우 정확하고 유능한 테스트 장비입니다. 마이크로 레벨 정확도, 빠른 주기 시간, 고급 온도 보상 시스템 (Advanced Temperation Compensation System) 은 나노 스케일 범위의 IC 테스트를 위한 훌륭한 선택입니다.
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