판매용 중고 SEMICS Opus3 #9068355

SEMICS Opus3은 SEMICS에서 개발 한 고급 프로버 플랫폼으로, 효율적인 웨이퍼 프로브를 통해 집적 회로 (IC) 의 전기 특성을 측정하고 분석 할 수 있습니다. 이 장비는 IC의 결함을 신속하게 파악하고 설계를 최적화할 수 있는 고성능 (HPO) 및 사용자 친화적 (User-Friendly) 작업을 제공합니다. SEMICS OPUS 3는 완전 컴퓨터 화 프로브, 자동 다이-투-다이 비교 테스트, 멀티-다이 스캔 기능 등 Prober 기술의 최신 향상을 활용합니다. 또한 척 (chucks) 을 자동으로 배치하고, 프로브 헤드에 웨이퍼를 자동으로 로드할 수 있습니다. 결과적으로, Opus3은 IC 를 신속하게 측정할 수 있으며, 다이 (die) 매개변수와 서브 다이 (sub-die) 매개변수를 구분할 수 있습니다. 오푸스 3 (OPUS 3) 의 높은 정밀도를 통해 사용자는 어둡고 밝은 이미지 처리를 수행하여 IC 결함을 신속하게 식별할 수 있으며, 전기 매개변수의 미묘한 변화를 감지 할 수 있습니다. 플랫폼은 CCD 카메라를 사용하여 IC의 표면 정보를 SEM 및 TEM 이미지와 같은 다양한 이미지 형식으로 표시합니다. SEMICS Opus3 은 고급 제어 시스템을 제공하여 Probe 작업 중에 IC 매개변수를 조정할 수 있습니다. Parameter Manager 및 Probe Program Manager 소프트웨어를 사용하면 가장 높은 신호 대 잡음비 및 최고 테스트 속도를 위해 IC 조건을 조정할 수 있습니다. 사용자는 또한 프로브 레시피를 매개변수화하고, 고정 파라미터나 사용자 정의된 레시피를 사용하여 즉시 다이 (die) 매개변수를 업데이트할 수 있습니다. 또한, 이 플랫폼은 온웨퍼 테스트 (on-wafer testing) 및 웨이퍼 매핑 (wafer mapping) 과 같은 다양한 측정 옵션을 제공하여 사용자가 여러 프로세스 노드에서 IC를 비교하면서 다양한 전기 측정을 얻을 수 있습니다. 또한 이 장치의 소프트웨어를 사용하여 자동 재교정 (auto-recalibration) 및 자동 파형 측정 기능을 포함한 프로빙 패턴 매개변수를 설정할 수 있습니다. 전반적으로, SEMICS OPUS 3은 IC를 신속하게 식별하고 테스트하는 다양한 기능을 제공하는 고급 프로버 플랫폼입니다. 이 플랫폼은 고성능 결함 감지를 위해 여러 가지 측정 옵션, 자동 Probe 작업 및 CCD 카메라 지원을 제공합니다. 또한 사용자 정의 가능하고 효율적인 작업을 위해 고급 Parameter Manager 및 Probe Program Manager를 제공합니다.