판매용 중고 SEMICS Opus #9228262

SEMICS Opus는 반도체 장치 특성 및 측정을위한 최첨단 전문가입니다. 실리콘-온-인슐레이터 (SOI), 실리콘 및 갈륨-비소 (GaAs) 를 포함한 다양한 기판에서 장치를 특성화하도록 설계되었습니다. 고급 전기 프로브 기술을 사용하여 Opus는 장치 특성 및 테스트에 대한 정확한 DC 및 AC 매개 변수 추출을 제공합니다. SEMICS Opus는 비교할 수없는 광학 수준의 측정 정확도를 제공하며, 가장 인기있는 교정 패키지와 완벽하게 호환됩니다. 정밀 도구는 전압 및 전류 응답의 일시적 (transent) 또는 동적 (dynamic) 변화를 나노초 이하로 캡처하여 장치 측정에서 업계 최고의 정확도를 허용합니다. 오푸스 (Opus) 는 자동화된 전기 프로브 (probing) 및 매개변수 추출 장비를 제공하여 수동 교정 작업이 필요하지 않습니다. 이 시스템은 사용 중인 기판 (예: 접촉 피치, 지름 등) 에 맞게 구성되어야 하는 3 개의 독립적으로 제어 가능한 축을 사용합니다. Probe 는 Contact Holder 에 마운트되며, 이를 통해 사용자는 Probe 세션을 최대한 활용할 수 있습니다. 프로브 장치 (Probe Unit) 에는 열 제어 하위 단계가 통합되어 테스트 중 열 유발 인공물의 위험이 크게 감소합니다. 자동화된 프로버 (Automated Prober) 는 높은 처리량을 도구에 통합하여 Prober 설정 시간을 단축하도록 설계되었습니다. 이러한 기능에는 사이트 간 상호 접속성, 장치와의 접촉 팁의 자동 나노미터 수준 정렬, 자동 장치 포지셔닝, 자동 신호 라우팅이 포함됩니다. 이러한 기능을 사용하면 설정 시간을 최소화하고 도구 활용도를 최대화할 수 있습니다. SEMICS Opus는 고급 전기 측정 기계를 자랑합니다. 광범위한 저항, 커패시턴스, 전력, 반응성 측정으로 DC 및 AC 측정을 모두 측정 할 수 있습니다. 이러한 측정 매개변수는 장치 매개변수의 특성화와 테스트 모두에 이상적입니다. 이 강력한 도구는 또한 고급 안전 (Advanced Safety) 기능을 통합하여 모든 실험이 업계 표준을 준수하도록 보장합니다. 안전 기능에는 통합 실드 도구 (Integrated Shield Tool), 보호 자산 (Protection Asset), 결함 감지 모델 (Fault Detection Model) 등 측정의 정확성과 정확성이 유지되도록 다양한 도구가 포함됩니다. 결론적으로, Opus Prober는 빠르고 안정적인 장치 특성화 및 테스트를 위한 자동화된 도구를 제공합니다. 이 도구는 고급 전기 프로브 기술 (Electrical Probing Technology) 과 고속 나노미터 (Nanometer) 수준의 정렬을 활용하여 광범위한 측정에 대한 정확성과 정확성을 제공합니다. 안정적인 안전 장비를 통해 업계 최고의 안정성과 활용성을 제공합니다.