판매용 중고 SEMICS Opus III #9410028

SEMICS Opus III (SEMICS Opus III) 는 기본 웨이퍼 테스트, 특성화에서 장치 및 산출 평가에 이르기까지 광범위한 웨이퍼 프로브 작업을 수행 할 수있는 반자동 프로버 및 웨이퍼 처리 장비입니다. 이 시스템은 개별 웨이퍼의 자동 픽업 및 전달을위한 상단 장착 로봇 핸드 (Robot-Hand) ™, 웨이퍼의 테스트 및/또는 프로브를위한 8 축 고층 조작기, 웨이퍼의 빠른 정렬을위한 회전 위치 단계, 플랫폼 스타일의 프로버. 예리하고 정확한 조사. 또한 Opus III에는 다양한 프로빙 프로그램, 정교한 다이 분석 및 보고 도구, 저항 시트 프로빙, 레이저 프로빙, 커패시턴스 시트 프로브 (capacitance sheet probing) 등 다양한 프로빙 기술 지원 등 다양한 기능이 있습니다. 이 장치는 또한 기본 미터 (basic meter), 고급 장치 (advanced device) 와 같은 광범위한 기기와 통합 할 수 있습니다. SEMICS Opus III의 고정밀도, 기울기 테이블 제어 Robot-Hand ™ 는 Probe 카드 및 웨이퍼의 정확하고 반복 가능하고 접촉이 불가능한 배송을 위해 설계되었습니다. 사용 가능한 모든 Probe 카드를 수용하기 위해 확장 된 도달 범위와 암 크기 조정을 제공합니다. 8축 조작기는 효율적이고 반복 가능한 조작 및 테스트를 위해 설계되었습니다. 이 기계의 고밀도 포지셔닝 (high-density positioning) 과 로봇 암 (robotic arms) 은 웨이퍼와 칩을 정확하게 정렬하고 배치하는 동시에 유연성과 빠른 반응을 제공합니다. 회전 위치 지정 기능을 사용하면 빠르고 정확하게 미리 정의된 정렬 참조 위치를 지정할 수 있습니다. 고정밀, 플랫폼 스타일의 프로 버는 뛰어난 열 안정성으로, 선명하고 정확한 다이 프로브를 가능하게합니다. Opus III 를 사용하면 즉시 데이터를 수집하고, 저장하고, Probe 결과를 계획하고, 테스트 시간을 최적화하고, 정확도를 향상시킬 수 있습니다. 이 도구에는 정교한 다이 분석 (die analysis) 및 보고 도구 (reporting tool) 가 포함되어 있으므로 테스트 종료시 종합적인 웨이퍼 분석이 가능합니다. 직렬 및 USB에서 GPIB, 이더넷 및 IEEE 488.2 표준에 이르는 다양한 통신 방법도 사용할 수 있습니다. 마지막으로, SEMICS Opus III는 테스트 데이터를 저장하고 분석하여 빠르고 정확한 장치 특성화나 산출량 평가를 가능하게 합니다.