판매용 중고 SEMICS Opus III #9393617

SEMICS Opus III
제조사
SEMICS
모델
Opus III
ID: 9393617
Prober.
SEMICS Opus III (SEMICS Opus III) 는 정확하고 신뢰할 수있는 결과를 추구하는 사람들이 추구하는 전문화 된 유형의 조사 프로세스입니다. 삼성전자· 삼성전자· 삼성전자· 삼성전자· 삼성전자· 삼성전자· 삼성전자· 삼성전자· 삼성전자· 삼성전자· 삼성전자· 삼성전 구체적으로, Opus III는 3 차원 전자 현미경 보조 프로브 기술이다. 샘플의 3 차원 표면을 매핑하는 고해상도 CCD 카메라가있는 특별히 설계된 SEM 프로브 (SEM Probe) 장비를 사용합니다. 매우 정밀한 프로브는 다중 렌즈 대상 시스템, 스캐닝 전자 현미경 열 (scanning electron microscope column) 및 기타 다양한 구성 요소로 구성됩니다. 이 단위는 3 나노미터 (3 나노미터) 의 해상도를 달성하여 복잡한 분석의 해상도와 정확도를 크게 향상시킬 수 있습니다. 작업에서, SEMICS 기계는 먼저 샘플 표면을 3 차원으로 스캔하여 물리적 구조의 이미지를 캡처합니다. 그런 다음 이 "디지털 '스캔 은 여러 가지 주파수 와" 패턴' 에 대해 분석 되는데, 이것 은 지정된 "샘플 '의 물리적 구성 을 이해 할 수 있다. 이 유형의 분석은 탄성, 인장 강도, 열 전도도, 전기 전도도 및 기타 물리적 특성과 같은 재료 특성을 결정하는 데 사용될 수 있습니다. 이 도구는 또한 독특한 "X 선 유사 (X-ray-like)" 형태의 분석을 제공하여, 관찰하기 어려운 샘플의 내부 특징을 연구 할 수 있습니다. SEMICS Opus III는 금속 (metal) 과 같은 전도성 샘플에서 플라스틱, 폴리머와 같은 비 전도성 샘플에 이르기까지 광범위한 샘플을 조사 할 수있는 능력이 독특합니다. 고해상도 이미징 (High Resolution Imaging) 을 제공하며, 정확하고 정확한 이미징 결과를 제공하며, 다른 수단을 통해 수집할 수 없는 샘플에 대한 정보를 제공합니다. 3 차원에서의 스캔 능력 덕분에, 원래 샘플의 미세 구조 (microsstructure) 에서 결함을 감지하는 데 사용될 수도 있습니다. 또한, 결과는 매우 상세 할 수 있으며, 재료 샘플의 물리적 구성 (physical makeup) 및 구조에 대한 매우 포괄적 인 정보를 제공합니다. 오푸스 3 세 (Opus III) 는 재료와 부품을 정확하게 연구하기 위해 다양한 업계에서 성공적으로 활용 된, 다재다능하고 강력한 기술입니다. 나노 미터 해상도는 반도체, 나노 물질 및 기타 고정밀 입자와 같은 섬세한 샘플을 조사하는 데 특히 유익합니다. 이 기술의 광범위한 적용 가능성과 신뢰할 수있는 정확성으로 인해 재료 분석 (materials analysis) 에 널리 허용되는 옵션입니다.
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