판매용 중고 SEMICS Opus III #9285131

SEMICS Opus III (O3 프로버라고도 함) 는 SEMICS Inc.에서 개발 한 반도체 웨이퍼 테스트 프로버입니다. 오푸스 3 세 (Opus III) 는 모듈식 아키텍처로 설계되어, 모든 웨이퍼 테스트 환경의 요구 사항을 충족할 수 있는 손쉬운 확장성과 맞춤형 구성을 지원합니다. O3 프로버는 쐐기, 사각형, 스루 홀 등 모든 형태의 웨이퍼를 테스트 할 수있는 올인원 웨이퍼 테스트 플랫폼입니다. 단일 wafer, 다중 wafer, multi-die 또는 multiple lot testing 등의 여러 테스트 구성을 지원하도록 설계되었습니다. O3 프로버 (O3 Prober) 에는 웨이퍼 로드 및 언로드를위한 다단계 로드 락 챔버 (Lock Chamber) 가 장착되어 있으며, 각 웨이퍼는 정확성과 반복성으로 균일하게 테스트됩니다. 로드 잠금 챔버의 온도는 0-400 ° C (최대 온도는 웨이퍼 재료에 따라 다름) 에서 제어 할 수 있습니다. 이 장치에는 웨이퍼 매퍼 (wafer mapper) 도 포함되어 있으며, 테스트 프로세스 동안 웨이퍼를 정확하게 배치하기 위해 여러 웨이퍼에서 각 다이 (die) 의 위치를 매핑하도록 설계되었습니다. 이 프로버 (Prober) 에는 강력한 모터 드라이브 시스템이 있으며, 와퍼와 테스트 장치를 정확하게 포지셔닝 할 수 있으며, 동작 제어 정확도는 1jm, 속도 정확도는 2jm/s입니다. 또한 고속 광학 정렬 시스템 (Optical Alignment System) 을 장착하여 테스트 중 웨이퍼를 정확하고 정확하게 정렬할 수 있습니다. 전기 테스트의 경우, O3 프로버에는 최대 8 개의 웨이퍼를 동시에 테스트 할 수있는 여러 개의 고밀도 I/O 채널이 장착되어 있습니다. 커브 트레이서, 릴레이, 스위치, 논리 분석기 등 다양한 전기 테스트 기기를 지원합니다. 또한, O3 프로버는 통합 카메라 시스템을 통해 시각 검사 및 웨이퍼 누출 테스트에 사용할 수 있습니다. 전반적으로 O3 프로버 (Prober) 는 강력하고 안정적인 웨이퍼 테스트 플랫폼으로, 웨이퍼 테스트 어플리케이션에 가장 높은 성능과 정확도를 제공합니다. 이 제품은 다양한 반도체 웨이퍼 (wafer) 유형과 구성을 효율적으로 테스트할 수 있는 최신 기술로, 모듈식 (modular) 설계를 통해 손쉬운 확장성과 맞춤형 구성이 가능합니다.