판매용 중고 SEMICS Opus III #9276658

SEMICS Opus III는 SEMICS International Corporation의 최첨단 전문가로서 전기/열 테스트에서 탁월한 성능을 제공합니다. Opus III에는 현대 반도체 장치의 효율적인 테스트를 위해 이중 분리 된 고전압/고전류 접촉 모듈이 있습니다. 이 기술은 또한 민감한 장치의 고전압/고전류 접촉 프로브 (High Voltage/High Current Contact Probing) 에서 발생할 수있는 팁 파손 및 과열 문제를 방지합니다. 통합형 전동식 광학 현미경은 반도체 결함 분석 (예: 5 축 이동으로 쉽게 달성 할 수있는 극단적 인 클로즈업 뷰) 을 광범위한 반도체 결함 분석 (예:) 을 허용합니다. 이 광학은 매크로 및 마이크로 이미징, 방사형 및 수직 줌 모두에 사용될 수 있습니다. 또한, 프로버에는 전류 및 전압, 인덕턴스, 저항, 정전 등 다양한 반도체 장치 특성을 테스트하기위한 다양한 in-situ 프로브가 포함되어 있습니다. SEMICS Opus III에는 빠르고 효율적인 보드 로드 및 테스트를 위해 완전히 컴퓨터 화 된 아키텍처가 포함되어 있습니다. 이 장치는 컴퓨터 제어 프로브와 함께 15 "컬러 터치 스크린 디스플레이를 통해 프로그래밍됩니다. 사용 가능한 4GHz 단일 클러스터 제어 시스템을 사용하여, 여러 보드 테스트 시퀀스를 동시에 실행할 수 있습니다. 이 기능을 통해 여러 보드를 신속하게 테스트할 수 있으므로 정확도가 떨어지지 않고 테스트 샘플의 처리량이 높아집니다. 기본 Prober 기능 외에도 Opus III에는 다른 기능도 포함되어 있습니다. 통합 버스 분석기 (Integrated Bus Analyzer) 를 사용하면 최대 8 개의 버스를 동시에 자동 분석할 수 있으며, 통계 분석 및 향상된 보드 진단을 위해 다양한 테스트 조합을 재생할 수 있는 세션 기록 (session recording) 을 사용할 수 있습니다. 고급 고속 비전 기반 프로브 배치 시스템 (High-Speed Vision-Based Probe Placement System) 과 보드 부품 정렬의 독점 기술을 통해 기존의 수동 프로브 방식보다 빠르게 프로브를 자동으로 배치할 수 있습니다. 측정에서 가능한 가장 높은 정확도를 보장하기 위해, 단위는 자기 유발 (self-induced) 오류를 줄이기 위해 지속적으로 온도 보정을 받는다. 또한 SEMICS Opus III (SEMICS Opus III) 는 여러 보드를 나란히 테스트할 수 있으므로 동일한 보드의 측정을 수행하고 추가 정확도를 비교 할 수 있습니다. 또한, 프로버 (Prober) 의 자동 보상 기능의 혁신적인 알고리즘은 외부 요인으로 인해 측정의 불일치를 제거합니다. 오푸스 3 세 (Opus III) 는 보드 분석 및 테스트에 가장 까다로운 요구 사항을 충족하도록 설계된 강력하고 정밀한 전문가입니다. 다양한 기능과 향상된 성능 기능을 갖춘 SEMICS Opus III는 가장 복잡한 반도체 보드 (SEMICS Opus III) 와 장치를 검사하고 테스트하는 데 적합합니다.