판매용 중고 SEMICS Opus III #9254913

SEMICS Opus III는 반도체 웨이퍼 프로브를 위해 특별히 설계된 고급, 매우 정확하고 자동화 된 프로버입니다. 그 기능에는 정확하고 빠른 측정이 가능한 견고한 고속 프로브 알고리즘, 결과의 정확성을 보장하는 고급 도량형 (Advanced Metrology Suite), 자동화된 데이터 분석 기능, 사용 편의성을 극대화하는 직관적인 그래픽 사용자 인터페이스 (Graphical User Interface) 가 포함됩니다. 통합 웨이퍼 처리 시스템은 3 인치, 5 인치 및 SMD 기판을 포함한 특수 웨이퍼뿐만 아니라 표준 크기와 반도체 웨이퍼 유형을 지원하도록 설계되었습니다. 테스트 형상에 따라 웨이퍼 당 최대 4 개의 사이트를 조사 할 수 있으며, 다양한 프로브 액세서리 (Probing Accessory) 를 제공합니다. 이 설계에는 웨이퍼 척 (wafer chuck) 과 프롤러 헤드 (prober head) 의 정확한 정렬을위한 단단한 프레임 구조와 활성 진동 감쇠 시스템이 포함되어 있습니다. 오푸스 3 세 (Opus III) 는 정확하고 효율적인 데이터 입수를 보장하는 전면적 측정 시스템, 빠른 이미지 처리 및 데이터 분석을 위한 통합 디지털 이미지 뷰어 (digital image viewer) 를 포함하는 고급 도량형 제품군을 통합했습니다. 데이터 분석 (data analysis) 기능은 다른 사이트 간의 모든 측정 결과의 상관 관계를 허용합니다. Prober의 직관적인 GUI (Graphical User Interface) 는 설치 및 작업을 단순화하여 테스트 매개변수를 쉽게 사용자 정의할 수 있습니다. 또한 테스트 진행 상황을 모니터링하고 측정 결과를 신속하게 확인할 수 있습니다 (영문). 임베디드 (Embedded) 프로그램을 사용하면 테스트 구성 설정과 프로브 (Probe) 패턴을 저장할 수 있으며, 사용자에게 지속적인 화면 안내서도 제공합니다. 세믹스 오푸스 3 세 (SEMICS Opus III) 는 최고 품질 표준에 따라 설계 및 구축되었으며, 까다로운 생산 환경에 적합합니다. 높은 처리량 (throughput) 과 정확도 (accuracy) 뿐만 아니라 다양한 기능을 통해 반도체 장치의 생산 및 테스트에 탁월한 선택이 가능합니다.