판매용 중고 SEMICS Opus III #9251172

SEMICS Opus III는 웨이퍼 레벨 테스트를 위해 설계된 전문가입니다. 다이 (die) 크기가 다른 고속, 고정밀도 및 신뢰할 수있는 프로브 솔루션을 사용자에게 제공합니다. Opus III는 완전 자동화 된 장치입니다. "웨이퍼 '의" 본드 패드' 에 정확 하게 접하는 "프로브 카아드 '와 같은 특별 한" 티이저' 를 갖추고 있다. "프로브 '" 카아드' 는 접점 으로 인하여 "웨이퍼 '가 손상 되는 것 을 막는 특별 한 합금 으로 만들어졌다. "프로브 '카드 는 쉽게 이동 하여" 다이' 의 RF 및 논리 "패드 '와 연결 할 수 있다. SEMICS Opus III의 특징 중 하나는 고속 스캔 시간이 있다는 것입니다. 스캔 시간을 조정할 수 있으므로 사용자가 필요에 따라 Probe 속도를 사용자 정의할 수 있습니다. Opus III는 초당 기가바이트 단위의 웨이퍼에 대한 테스트 패턴을 제조 할 수도 있습니다. SEMICS Opus III는 또한 회로의 섭동, 결함 및 잠재적 실패를 감지 할 수 있습니다. Opus III의 사용자 인터페이스도 사용자 친화적이며 직관적입니다. Touch Screen LCD 디스플레이는 사용자가 기능 및 설정에 빠르고 쉽게 액세스할 수 있도록 해줍니다. 또한 SEMICS Opus III에는 테스트 프로세스를 사용자 정의하고 특정 테스트 결과에 따라 변경 (change) 할 수 있는 소프트웨어가 제공됩니다. Opus III는 시장에서 이용할 수있는 주요 전문가 중 하나입니다. 이 제품은 제품을 빠르고 정확하게 테스트해야 하는 제조업체에게 안정적이고 고품질의 프로브 (Probing) 솔루션을 제공합니다. 세믹스 오퍼스 III (SEMICS Opus III) 의 빠른 스캔 시간은 부정확하거나 잘못된 테스트 결과의 위험을 감수하지 않고도 테스트 (testing) 를 신속하고 효율적으로 수행할 수 있도록 합니다. 또한 사용자 인터페이스 (User Interface) 와 사용자 지정 가능한 설정 (Customizable Settings) 을 통해 제조업체는 테스트 프로세스를 쉽게 구성하고 필요할 때 변경 작업을 수행할 수 있습니다.