판매용 중고 SEMICS Opus III #9209249

SEMICS Opus III는 테스트 및 검사 장비를 전문으로하는 반도체 회사 인 SEMICS에서 개발 한 전문가입니다. 프로버 (Prober) 는 자동 테스트 및 측정 장비로, 오류 분석을 위해 웨이퍼의 전기 특성을 조사하고 검증하는 데 사용됩니다. 오푸스 3 세 (Opus III) 는 집적 회로의 성능에 영향을 줄 수있는 다양한 요소를 식별하고 평가하는 데 사용될 수있다. 이 시스템에는 인체 공학적으로 설계된 Probe 스테이션과 대형 LCD 터치 스크린 인터페이스가 장착 된 소형 컨트롤러 콘솔이 있습니다. 2D 또는 3D 스캔, 4 채널 전기 테스트, VGA 또는 DVI 시각적 검사 중에서 선택할 수 있습니다. 3 개의 독립적 인 Z 스테이지는 높은 정확도 x-y 포지셔닝 및 자동 웨이퍼 레벨링을 가능하게합니다. 프로브 스테이션에는 2 개의 XY 축과 로터리 스테이지 (rotary stage) 와 더 정확한 검사를 위해 옵션 현미경이 장착되어 있습니다. SEMICS Opus III는 전력 소비, 누출 전류, 샘플링 전압, 타이밍 등 여러 매개변수를 측정 할 수 있습니다. 내장된 Statistical Analysis (통계 분석) 소프트웨어는 테스트 결과를 기록하고 저장할 수 있는 기능을 통해 정확한 측정 데이터를 보장합니다. 또한 사용자가 저장된 데이터를 미리 액세스하여 신속하게 비교하고 품질을 제어할 수 있습니다. 이 장치는 다양한 웨이퍼 (wafer) 크기를 처리할 수 있으며, 확장 가능한 테스트 플랫폼으로 특정 응용 프로그램으로 사용자 정의할 수 있습니다. 다양한 웨이퍼 (wafer) 크기를 수용할 수있는 다양한 테스트 비품을 제공하여 대부분의 웨이퍼 프로브 (wafer probing) 응용 프로그램에 적합합니다. 또한 고속 컨베이어 머신을 사용하면 효율적이고 정확한 샘플 처리가 가능합니다. 안전성 측면에서, 이 도구는 잠재적 안전 사고 (Safety Hazard) 로부터 운영자를 보호하기 위해 설계된 업계 표준 안전 자산을 갖추고 있습니다. 또한 안전을 보장하기 위해 화재 감지 및 경보 시스템이 내장되어 있습니다. 뿐 만 아니라, 이중 "레이저 '" 스캐너' 는 서로 에 대한 기구 의 충돌 을 방지 하기 위해 설치 된다. 전반적으로, Opus III prober는 사용자가 정확하고 안정적인 테스트 데이터를 제공하도록 설계된 고효율적인 테스트/측정 모델입니다. 직관적 인 설계와 고급 기능을 갖춘 이 장비는 웨이퍼 프로브 (Wafer Probing) 어플리케이션을 위한 비용 효율적인 솔루션을 제공합니다.