판매용 중고 SEMICS Opus III #293731363

SEMICS Opus III는 SEMICS Microsystems에서 반도체 회로 생산 및 연구에 사용하기 위해 설계 한 고급 반도체 프로브 스테이션입니다. 오푸스 3 세 (Opus III) 는 다양한 기능을 갖추고 있으며, 가장 완벽하게 자동화되고 신뢰할 수 있는 전문가입니다. 정확한 샘플 정렬 및 포지셔닝 기능, 대규모 Probe 풀, 고속 스위칭 및 데이터 획득 기능, 고급 자동 테스트, 다양한 애플리케이션 (RF, 논리, 메모리 등) 지원 기능을 자랑합니다. SEMICS Opus III에는 각 샘플 마운트의 위치를 정확히 지정하고 방향을 정하도록 설계된 4 개의 동작 축이 있습니다. X-Y 축의 범위는 4 "입니다. Z축은 0.7 인치의 수직 변환입니다. -축은 1.5 ° 회전 범위를 갖습니다. 이를 통해 특정 재 정렬 및 프로브의 정확한 배치를 샘플링할 수 있습니다. 프로버 (Prober) 는 수동 또는 전동 샘플 정렬 및 추가 기능을 위한 위치를 포함하도록 구성할 수 있습니다. 오푸스 3 세 (Opus III) 는 샘플의 정확한 위치와 함께 다양한 프로브와 넓은 작업 영역을 제공합니다. 프로버 (Prober) 는 30 개의 표준 프로브를 가지고 있으며 고 처리량 테스트를 지원하기 위해 최대 64 개의 프로브로 업그레이드 할 수 있습니다. 프로브 접촉 표면적은 5 "x 8" 이며, 프로버에는 자동 카메라 기반 정렬 뷰어 시스템이 장착되어 있어 샘플 배치 및 문제 해결이 쉽습니다. 마지막으로, SEMICS Opus III에는 인체 공학적 15 "LCD 디스플레이 화면이 있으며 다양한 I/O 장치를 통합하여 장치를 매우 사용자 친화적으로 만듭니다. Opus III에는 다양한 강력한 자동 테스트 기능이 있습니다. 프로버는 전압, 저항, 커패시턴스 (capacitance) 와 같은 매개변수를 측정할 수 있으며 사전 정의된 테스트 계획에 따라 테스트 실행 (run test) 을 수행 할 수 있습니다. Prober는 정확한 장애 분석을 위해 논리 테스트 어셈블리, 자동 FET 스위칭 시스템 및 강도 기반 C 모드 이미징을 갖추고 있습니다. 또한 SEMICS Opus III는 최대 100MS/s의 속도로 최대 4 개의 내장 신호 데이터 획득 채널을 동시에 실행할 수 있습니다. 마지막으로, 오푸스 III (Opus III) 는 다양한 애플리케이션별 구성을 제공하여 다양한 반도체 테스트 및 연구 환경에 쉽게 적응할 수 있습니다. 이 검사는 RF, 논리 또는 메모리 테스트를 지원하도록 맞춤형으로 조정할 수 있으며, 환경 테스트, 웨이퍼 레벨 패키징, 장애 분석 등을 위한 옵션 기능을 제공합니다. 결론적으로, SEMICS Opus III는 시장에서 가장 포괄적이고 신뢰할 수있는 전문가입니다. 생산용 (production) 이나 연구용 응용프로그램 (Research Application) 에 적합하며, 자동화된 테스트 옵션을 통해 모든 반도체 테스트의 정확성을 가속화하고 향상시킬 수 있습니다.