판매용 중고 SEMICS Opus III #293608191

SEMICS Opus III Prober는 고성능 멀티 컨트롤러 장치로, 웨이퍼 칩에서 집적 회로 (IC) 를 조사하고 테스트하기 위해 설계되었습니다. 이 Prober는 웨이퍼 특성, ATE 테스트 및 제조 테스트에서 응용 프로그램에 대해 빠르고 정확한 결과를 제공합니다. 오푸스 III 프로버 (Opus III Prober) 는 고속 프로세서와 고급 소프트웨어 알고리즘을 장착하여 프로브의 정확성을 최적화하여 웨이퍼 테스트에 소요되는 시간을 단축합니다. 고유한 서보 제어 시스템은 시간이 지남에 따라 반복 가능한 테스트 결과를 보장합니다. 프로버 (Prober) 는 또한 다양한 고급 인터페이스 (Advanced Interface) 와 향상된 Probing 기능을 제공하여 다양한 종류의 테스트 시스템과 함께 사용할 수 있습니다. 이 검사는 다른 유형의 회로를 빠르고 정확하게 분석하고 전압, 전류, 저항, 정전량 등 여러 특성을 결정하도록 설계되었습니다. 이 장치는 단 몇 초 만에 웨이퍼 (wafer) 를 스캔할 수 있으므로 대규모 프로덕션 실행에 이상적입니다. 고급 광학은 정확하고 반복 가능한 측정을 허용합니다. SEMICS Opus III Prober는 또한 유연한 구성을 제공하여 사용자가 테스트 요구를 사용자 정의할 수 있습니다. 광범위한 테스트 처리 시스템 (Test Handling System) 과 호환되며 여러 유형의 핸들러와 함께 사용할 수 있습니다. 이 장치는 최대 8 개의 헤드로 구성할 수 있으며, 이를 통해 더 빠른 테스트와 더 많은 수의 샘플을 만들 수 있습니다. Opus III Prober는 안정적이고 유지 보수가 적고 사용자 친화적 인 소프트웨어 플랫폼으로 구동됩니다. 사용자 친화적 인 소프트웨어 그래픽 인터페이스 (Graphical Interface) 를 통해 사용자는 필요에 따라 설정을 신속하게 조정할 수 있습니다. 사용자는 소프트웨어를 사용하여 사용자 지정 테스트를 만들고 자세한 보고서를 생성할 수도 있습니다. SEMICS Opus III Prober (SEMICS Opus III Prober) 는 다양한 집적 회로 응용 프로그램을 테스트하는 데 이상적인 안정적이고 효율적인 전문가입니다. 첨단 기능과 강력한 소프트웨어로, 빠르고 정확한 웨이퍼 테스트 결과가 필요한 칩 메이커 (Chip Maker) 와 테스트 엔지니어 (Test Engineer) 에게 적합한 선택입니다.