판매용 중고 SEMICS Opus III SH #293804329
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ID: 293804329
웨이퍼 크기: 8"-12"
빈티지: 2021
Prober, 8"-12"
Previously docked to WINTEST WTS-577 Tester
Direct docking
Ambient to hot temperature
CE Certified
No interface
Manipulator for Wintest tester
2021 vintage.
SEMICS Opus III SH는 집적 회로 (IC), 마이크로 프로세서, 메모리 칩과 같은 반도체 장치를 정확하게 테스트하고 검사하기 위해 반도체 산업을 위해 설계된 정교한 프로 버 장비입니다. 반도체 웨이퍼 (wafer) 표면에서 중요한 전기 연결을 조사하는 데 있어 높은 정확성과 신뢰성을 제공합니다. 첨단 Prober 시스템은 최첨단 기술 (최첨단 기술) 을 탑재하고 있으며, 대용량 생산 환경과 연구 개발 실험실 (Research and Development Labs) 에 이상적인 기능을 갖추고 있습니다. Opus III SH의 중심에는 매우 정밀한 프로빙 메커니즘이 있으며, 위치 지정 및 테스트 중인 장치 (DUT) 에 미크론 수준의 정확성을 허용합니다. 이것 은 "프로 '와 반도체" 웨이퍼' 사이 에 전기 신호 가 신빙성 있게 전달 되어 정확 하고 일관성 있는 시험 결과 를 가져온다. 프로버 장치 (Prober Unit) 는 프로브 이동 및 정렬을 정확하게 제어 할 수있는 고급 소프트웨어 (Advanced Software) 에 의해 제어되며, 각 접촉 지점은 최대한의 정밀도로 이루어집니다. SEMICS Opus III SH의 주요 기능 중 하나는 높은 처리량 기능으로, 대용량 테스트 애플리케이션에 적합합니다. 프로버 머신 (Prober Machine) 에는 쉽게 교환 할 수있는 여러 개의 프로브 (Probe) 카드가 장착되어 있으며, 다양한 유형의 반도체 장치를 빠르게 설치 및 테스트할 수 있습니다. 검증된 툴이 광범위한 재구성/재구성 없이도 다양한 테스트 요구 사항에 부응할 수 있습니다 (영문). 또한, Opus III SH는 테스트 프로세스를 간소화하는 고급 로봇 공학 (robotics) 및 취급 시스템을 통해 매우 자동화되도록 설계되었습니다. 이 자동화는 수동 개입의 필요성을 줄이고, 사람의 오류의 위험을 최소화하고, 전반적인 효율성을 증가시킵니다. 프로버 (Prober) 자산은 기존 운영 라인 또는 테스트 설정에 원활하게 통합되어 원활한 운영 및 다운타임을 최소화할 수 있습니다. 정확성과 정확성 측면에서, SEMICS Opus III SH는 업계 표준을 초과하며, 일관되고 안정적인 조사 결과를 보장하는 고급 교정 및 정렬 기능을 제공합니다. 프로버 (Prober) 모델에는 고급 센서와 측정 (Measurement) 기능이 장착되어 있어 프로브 위치를 실시간으로 모니터링, 조정할 수 있어 전기 접촉이 최고 수준의 정확도로 이루어집니다. 또한, Opus III SH는 테스트 중인 반도체 장치와 프롤러 장비 자체를 보호하기 위해 고급 안전 기능을 통합합니다. 여기에는 과부하, 과열 (overheating) 또는 민감한 부품을 손상시킬 수 있는 기타 잠재적 위험을 방지하기 위한 기본 보호 장치가 포함됩니다. Prober 시스템에는 고급 진단 도구 (Diagnostic Tools) 와 자체 테스트 (Self-Testing) 기능이 포함되어 있어 사용 기간 연장에 걸쳐 최적의 성능과 신뢰성을 보장합니다. 결론적으로, SEMICS Opus III SH는 반도체 테스트 응용 프로그램을 위해 높은 정밀도, 안정성 및 처리량을 제공하는 최첨단 프로버 장치입니다. 반도체 (반도체) 제조업체와 연구기관들이 반도체 (반도체) 기기에 대한 정확하고 효율적인 테스트를 성취하고자 하는 것이 첨단 기능, 자동화 기능, 탁월한 성능 덕분이다.
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