판매용 중고 SEMICS Opus III SH #293804328
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ID: 293804328
웨이퍼 크기: 8"-12"
빈티지: 2019
Prober, 8"-12"
Previously docked to WINTEST WTS-577 Tester
Direct docking
Ambient to hot temperature
CE Certified
No interface
Manipulator for Wintest tester
2019 vintage.
SEMICS Opus III SH는 반도체 테스트 및 고급 연구 응용 프로그램을 위해 설계된 최첨단 Prober 장비입니다. 이 고성능 프로버 (Prober) 시스템은 반도체 장치의 성능과 신뢰성을 평가하는 데 중요한, 정확한 제어 및 측정 기능을 제공합니다. Opus III SH 모델은 SEMICS Opus 시리즈의 일부로, 조사 기술의 뛰어난 정확성, 속도 및 유연성으로 유명합니다. SEMICS Opus III SH 프로버 유닛의 핵심에는 고급 프로빙 메커니즘이 있으며, 이를 통해 테스트 중 반도체 장치 (DUT) 와 매우 정확하고 반복 가능한 접촉이 가능합니다. 이 기계는 X, Y 및 Z 변환과 세타 회전을 포함하여 여러 정도의 자유를 가진 모터 화 된 스테이지를 특징으로합니다. 이를 통해 프로버는 마이크로 레벨 정밀도로 프로브 팁을 배치하여 DUT의 본드 패드 (bond pad) 또는 테스트 포인트 (test point) 와 최적의 접촉을 보장합니다. 오푸스 III SH 프로버 (Opus III SH prober) 도구의 주요 기능 중 하나는 고속 프로빙 기능으로, 점점 더 복잡한 기능과 더 높은 데이터 속도를 가진 최신 반도체 장치를 테스트하는 데 필수적입니다. 자산에는 고급 제어 알고리즘 (Advanced Control Algorithm) 과 동작 피드백 시스템 (Motion Feedback System) 이 장착되어 있어 다양한 디바이스 유형과 테스트 조건에서 빠르고 신뢰할 수 있습니다. 이 고속 프로빙 기능은 신호 무결성 (signal integrity) 과 타이밍 (timing) 이 중요한 RF 및 마이크로파 부품과 같은 고주파 장치를 테스트하는 데 특히 유용합니다. Probing 속도 외에도 SEMICS Opus III SH Prober 모델은 뛰어난 측정 정확성과 반복 성을 제공합니다. 이 장비에는 고해상도 위치 인코더 (position encoder) 와 고급 교정 루틴 (calibration routine) 이 장착되어 있어 정확한 프로브 팁 정렬 및 접촉력 제어가 가능합니다. 이 정밀도 수준은 임피던스 (impedance), 커패시턴스 (capacitance), 누출 전류 (leakage current) 와 같은 장치 성능 매개변수를 특성화하는 데 필수적입니다. Opus III SH prober 시스템의 또 다른 중요한 특징은 확률 유연성과 적응성입니다. 이 장치는 다양한 DUT 크기와 레이아웃을 수용하기 위해 단일 팁, 다중 팁, 캔틸레버 스타일 프로브를 포함한 다양한 Probe 카드 구성을 지원합니다. 또한, 이 검사는 수직 (vertical), 수평 (horizontal), 각도 검사 (angle probing) 와 같은 다양한 검사 기술과 호환되므로 다양한 테스트 요구 사항과 과제를 해결할 수 있습니다. SEMICS Opus III SH 프로버 머신은 반도체 테스트 환경으로의 사용 편의성 및 통합을 위해 설계되었습니다. 이 도구는 사용자 친화적 인 그래픽 인터페이스를 통해 운영자가 테스트 시퀀스를 쉽게 프로그래밍할 수 있고, Probe 구성을 설정하고, 테스트 결과를 실시간으로 모니터링할 수 있습니다. 프로버는 또한 로봇 웨이퍼 로딩 (robotic wafer loading) 및 언로딩 (unloading) 과 같은 고급 자동화 기능을 갖추고 테스트 프로세스를 간소화하고 전반적인 생산성을 향상시킵니다. 결론적으로, Opus III SH는 반도체 테스트 및 연구 응용 프로그램에 탁월한 성능, 정확성, 유연성을 제공하는 최첨단 자산입니다. SEMICS Opus III SH Prober 모델은 고속 Probing 기능, 정확한 측정 정확성, Probing 유연성, 사용자 친화적 인터페이스를 통해 반도체 제조업체와 연구원에게 장치의 성능과 안정성을 효율적이고 효과적으로 평가해야 하는 도구를 제공합니다.
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