판매용 중고 SEMICS Opus II #9407068
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SEMICS Opus II는 SEMICS에서 개발 한 프로버로, 전자 장치 속성을 조사하는 데 전념하고 있습니다. 다중 영역 열 척 설계를 갖춘 고정밀도, 고 처리량 프로버입니다. 프로버 (Prober) 에는 유연성, 확장성, 정확성 등 와퍼 레벨 장치를 테스트하는 데 이상적인 다양한 기능이 있습니다. Opus II의 주요 이점은 유연성입니다. Prober는 별도의 Contact TIP (연락처 팁) 을 사용하여 다양한 디바이스를 테스트할 수 있으므로 다양한 Testing 기능을 사용할 수 있습니다. 소형 CSP 패키지에서 12 인치 웨이퍼까지 다양한 디바이스 크기와 기능을 처리 할 수 있습니다. 또한, Prober에는 자동화되고 프로그래밍 가능한 테이프 피더가 있으며, 복잡한 테스트 시나리오 또는 대규모 테스트 프로젝트가 가능합니다. SEMICS Opus II도 확장성이 뛰어납니다. Prober에는 확장 가능한 척 (chuck) 시스템이 있어 광범위한 다중 영역 구성이 가능합니다. 즉, 사용자가 특정 프로세스 (가장 까다로운 디바이스) 에 대한 테스트 솔루션을 쉽게 만들 수 있습니다. 또한, 프로버에는 통합 된 TEMIS prober chuck 모니터링 시스템이 있으며, 이는 프로세스 매개 변수의 자동 모니터링으로 인해 테스트 결과의 정확성과 일관성이 향상됩니다. 프로버 (Prober) 에는 신뢰성 있고 정확한 여러 가지 다른 기능도 있습니다. 인상적인 XY 해상도는 10nm이며 XYZ 위치 정확도는 0.1 미크론입니다. 또한, 고속 z축 동작은 350mm/second로, 테스트는 빠르고 정확하게 완료 될 수 있습니다. 전반적으로, Opus II는 신뢰할 수 있고, 정밀하며, 확장 가능한 증거로, 전자 장치 테스트에 이상적입니다. 프로그래밍 가능한 테이프 피더 (tape feeder), 확장 가능한 척 (chuck) 시스템, 인상적인 해상도와 정확도로 모든 프로세스에 대한 종합적인 테스트 솔루션을 제공합니다.
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