판매용 중고 SEMICS Opus II #9407052

SEMICS Opus II는 웨이퍼 테스트 및 품질 분석을위한 전문가입니다. 반도체 업계에서 제조 공정 전, 중, 후에 작은 장치를 조사하고 테스트하는 데 사용됩니다. 즉, 운영 및 설계에 대한 유용한 피드백을 제공하며, 보다 정확한 품질 관리, 잘못된 제품 제거, 운영 프로세스 최적화 등을 지원합니다. Opus II는 다용도 웨이퍼 검사 및 테스트, 실시간 온도 감지, DC 및 RF 측정, 기타 다양한 구성 테스트 및 측정 기능을 갖춘 4D 웨이퍼 매핑 (wafer mapping) 을 지원하는 다용도 전문가입니다. 최대 56 단계의 웨이퍼 매핑 (wafer mapping) 을 통해 SEMICS Opus II는 모션 없이 각 웨이퍼 위치에 대한 세부 분석을 수행하여 기존 방법에 비해 측정 시간을 크게 최소화 할 수 있습니다. Opus II에는 자동 보정, 테스트 프로그램 작성 등의 고급 자동화도 있습니다. 이 프로버는 AI 기술과 통합 된 모듈 인 SEMICS 검사관에 연결할 수 있습니다. 이를 통해 검사는 테스트 결과의 품질 (quality of test results) 과 원하는 결과의 편차를 신속하게 식별할 수 있습니다. SEMICS Opus II는 또한 도량형 시스템과의 호환성을 위해 구성되며, 임계 치수, 데이터 로깅, 비닝 (binning) 과 같은 다양한 웨이퍼 측정이 가능합니다. 또한, 고급 die-to-die 및 pattern-to-pattern 정렬 기능은 다양한 측정 작업에 적합합니다. 오푸스 2 세 (Opus II) 는 인체 공학적으로 설계된 휴먼 인터페이스를 갖추고 있으며, 아이콘과 그래픽이 선명한 직관적이고 사용자에게 친숙한 작동을 제공합니다. 이를 통해 사용자는 테스트 요구 사항에 맞게 다양한 구성 요소를 손쉽게 제어 (control and configure) 하고 구성할 수 있습니다. 또한 수동 연산자 재정의 (manual operator override) 를 통해 시스템이 설계되어 필요한 경우 테스트 프로세스를 완전히 제어할 수 있습니다. 간단히 말해서, SEMICS Opus II는 고성능, 신뢰할 수있는 전문가이며, 생산 중 여러 웨이퍼 테스트 및 품질 분석에 적합합니다. 고급 자동화, 인체공학적 설계, 도량형 소프트웨어 (Metrology Software) 와의 호환성을 통해 광범위한 작업에 활용할 수 있으며, 효율적인 웨이퍼 테스트 (Wafer Testing) 및 품질 제어를 위한 탁월한 솔루션을 제공합니다.