판매용 중고 SEMICS Opus II #9407051

SEMICS Opus II는 상업용 반도체 웨이퍼 프로브 응용 프로그램을 위해 설계된 전문가입니다. 모든 장치 구조 또는 패키지의 전기적 (electrical) 테스트와 기계적 (mechanical) 테스트에 모두 사용할 수 있는 자동화된, 완전 프로그래밍 가능한 장치입니다. 오푸스 II (Opus II) 는 0.3 미크론 정도의 해상도 수준을 가진 접촉 및 비 접촉 프로브를 모두 할 수있다. 프로브, 문제 해결, 장치 특성, 웨이퍼 레벨 전기 테스트 등에 사용될 수 있습니다. SEMICS Opus II의 주요 구성 요소에는 Prober Control Unit, 자동 Probe, 고해상도 디스플레이 장치 및 주변 장치 세트가 포함됩니다. 프로버 제어 장치 (Prober Control Unit) 는 시스템의 두뇌 역할을 하며 전원 공급, 프로브 제어, 프로그램 명령 실행 등을 담당합니다. 유연한 고속 통신, 제어 케이블을 통해 프로브에 연결됩니다. 자동 프로브 (automated probe) 는 테스트 중인 장치 또는 피쳐와 접촉하도록 프로브 팁을 이동하고 배치하도록 설계되었습니다. 프로브는 매우 유연하며, 모든 축에서 이동하도록 프로그래밍 될 수 있습니다. 마이크로 프로세서 기반 모션 제어 장치에 의해 구동됩니다. 디스플레이 장치 (display unit) 에는 고해상도 컬러 디스플레이가 포함되어 있으며 테스트 결과를 실시간으로 표시하는 데 사용됩니다. 주변 기기에는 현미경, 간섭계, 도량형 프로브, 레이저 검출기 및 고주파 테스트 장비가 포함됩니다. Opus II는 Prober 제어 장치에서 실행되는 독점 소프트웨어 패키지를 사용합니다. 이 소프트웨어에는 wafer Probing 절차를 신속하게 정의, 테스트, 보고할 수 있도록 설계된 명령 세트가 포함되어 있습니다. 사용자는 사용자 정의 Probe를 만들고 시퀀스를 분석하고, 데이터를 임포트/익스포트하며, 인터넷을 통해 SEMICS Opus II의 원격 액세스 및 작동을 제공합니다. 오푸스 2 세 (Opus II) 는 정밀 구성 요소로 구성되어 있으며 강력하고 신뢰할 수 있도록 설계되었습니다. Class 1, Division 2 위험 위치에서 안전한 작동이 가능하도록 인증되었으며, 기계기에 대한 우발적 액세스를 방지하기 위해 포트 잠금 (Port Lock) 과 같은 사용자 친화적 인 안전 기능이 포함되어 있습니다. 이는 운영자의 안전을 보장합니다. SEMICS Opus II는 상업 및 연구 응용 프로그램 모두에 이상적인 증명자입니다. 정밀도, 견고성, 유연성, 사용자 친화적 기능의 조합으로, 웨이퍼 테스트 및 프로브에 이상적인 선택입니다.