판매용 중고 SEMICS Opus II #9407030

Semiconductor SEMICS Opus II Prober는 반도체의 고급 조사 및 테스트를위한 강력한 시스템입니다. 이 제품은 웨이퍼 레벨 (wafer level) 및 패키지 장치 (transistor) 및 다이오드 (diode) 를 모두 테스트하도록 설계되었습니다. 이 시스템은 회로 성능 향상, 수율 향상, 비용 절감 효과를 제공합니다. Prober는 제어 온도 환경, 높은 정확도 프로브 헤드, 프로브 배치를위한 마이크로 매니 펄레이터, 프로그래밍 가능한 반도체 테스트 매개변수, 임베디드 테스트 소프트웨어 등 다양한 전자 부품 및 기능을 갖추고 있습니다. 온도 범위는 섭씨 -50도에서 + 120도이며 정밀 해상도는 섭씨 0.01도입니다. Prober의 고급 프로브 헤드 (Advanced Probe Head) 는 최대 1GHz의 고주파 프로브 (High Frequency Probing) 를 지원합니다. 또한, 반도체 테스트 중에 정확하고 반복 가능한 프로브 배치를 보장하기 위해 세계 최고의 조작 시스템을 갖추고 있습니다. Prober는 또한 웨이퍼 패턴 인식, 결함의 3D 매핑, 전압 및 전류 보고서, 완전한 표면 스캔, 고속 캔틸레버 기반 테스트 등 광범위한 자동 테스트 기능을 제공합니다. 유연성과 정확성을 통해 가장 복잡한 설계도 효율적으로 테스트할 수 있습니다. 또한, Prober는 적절한 최소 및 최대 다이-투-다이 지연 시퀀스로 4-, 5-, 6- 및 8-스트링 기판을 시퀀싱 할 수 있습니다. 또한, 각 테스트 레벨 내에서 최대 2 개의 하위 레벨 인 멀티 레벨 테스트 전략을 프로그래밍 할 수 있습니다. 전반적으로 Semiconductor Opus II Prober는 반도체 테스트 및 프로브에 효과적인 솔루션입니다. 신뢰성이 높고, 정확하며, 효율적이며, 제품 비용을 절감하고 높은 수율을 보장하는 다양한 기능을 제공합니다. Prober의 자동 테스트 기능, 고급 프로브 헤드 (Probe Head), 유연한 온도 범위 (Flexible Temper Range) 및 프로그래밍 가능한 테스트 매개 변수 조합은 모든 반도체 테스트 및 Probing 요구에 적합한 선택입니다.