판매용 중고 SEMICS Opus II #9407027

SEMICS Opus II는 메모리 (memory), 논리 집적회로 (logic integrated circuit), 평평한 표면 및 높은 종횡비 커넥터가있는 다른 장치를 테스트하고 검사하기 위해 설계된 전문가입니다. 자동화된 웨이퍼 프로버로, 빠르고, 정확하며, 신뢰할 수 있는 샘플 검사를 가능하게 합니다. 이 프로버에는 4 개의 위치 스캔 단계와 최대 200mm 크기, 최대 500m 높이의 샘플을위한 정밀 유연도 안내 단계가 포함됩니다. 빠른 샘플 정렬 및 포지셔닝 (positioning) 을 가능하게 하는 최고 20 ½ m 포지셔닝 정확도를 달성 할 수있는 고속 모션 컨트롤이 특징입니다. 이 Prober는 고급 비전 (Advanced Vision) 기술과 자동화된 웨이퍼 정렬을 활용하여 보다 빠르고 정확한 샘플 유효성을 검증합니다. Opus II prober는 또한 접촉, 글러브리스 또는 적외선 프로브 기능을 포함한 다양한 프로빙 솔루션을 갖추고 있습니다. 또한, 이 장치에는 고해상도 이미징 기능을 제공하는 조절 가능한 광학 현미경 (optical microscope) 과 이미징 시스템 (imaging system) 이 장착되어 있으며, 미세한 결함을 감지 할 수 있습니다. 또한, Prober는 운영 매개변수를 모니터링하고 사용자에게 모든 문제를 경고하기 위해 자체 진단 (Self-Diagnostics) 기능을 내장했습니다. 따라서 안정적인 성능과 신속한 문제 해결이 보장됩니다. 또한, 이 시스템에는 쉬운 좌표 프로그래밍을위한 SEMICS 독점 소프트웨어, 강력한 편집 루틴, 데이터 분석 및 내보내기 지원 등이 포함되어 있습니다. 최종 안전을 위해 SEMICS Opus II Prober에는 사용자 친화적 인 액세스 포트, 자동 긴급 차단 스위치, ESD 보호 등 다양한 안전 업그레이드가 제공됩니다.