판매용 중고 SEMICS Opus II #9383805

SEMICS Opus II는 반도체 테스트 및 특성화를위한 수많은 기능을 제공하는 자동 웨이퍼 프로버 (wafer prober) 및 도량형 장비입니다. 이 시스템은 로보틱스 (Robotics) 와 자동화 (Automation) 의 최신 발전을 활용하여 대규모 볼륨 생산 테스트를 위한 완전 자동화 솔루션을 제공합니다. Opus II 장치는 플래시, DRAM, ASIC, MCU 및 EPROM 등 다양한 반도체 장치에 대한 포괄적인 테스트 및 특성 기능을 제공합니다. 기계는 로봇 장치, 자동 처리 장치, 측정 스테이션 등 3 가지 주요 구성 요소로 구성됩니다. 로봇 장치는 웨이퍼를 Analysis Station으로 이동시킵니다. 또한 진공 처킹 도구 (vacuum chucking tool) 로부터의 웨이퍼 전송, 정렬을위한 웨이퍼 (wafer) 의 임의의 위치 지정, 도량형 스테이션으로의 웨이퍼 이동 등을 처리합니다. 자동 처리 장치 (Automated Handling Unit) 는 자산 전반에 걸쳐 지속적인 웨이퍼 흐름을 담당하며 장애 감지 (Fault Detection) 모델이 장착되어 있습니다. 이 기능은 생산 과정에서 발생할 수 있는 모든 웨이퍼 (Wafer) 관련 장애를 파악하기 위해 자동 (Automated) 시스템에 필수적입니다. 마지막으로, 도량형 스테이션은 두 가지 도구, 즉 표면 토폴로지 데이터 획득에 사용되는 레이저 산란계 (laser scatterometer) 와 웨이퍼의 패턴 된 표면을 매핑하는 데 사용되는 스캐닝 전자 현미경 (scanning electron microscope) 으로 구성됩니다. SEMICS Opus II (SEMICS Opus II) 는 광범위한 통합 옵션과 다양한 고급 제어 기능을 갖춘 다양한 기존 생산 라인에 적합하도록 설계되었습니다. 여기에는 부드러운 연산 및 낮은 입자 생성을 가능하게하는 고급 컴퓨터 제어 웨이퍼 처리 (advanced computer-controlled wafer handling) 기술이 포함됩니다. 이러한 컴퓨터 제어 (computer-controlled) 방법은 사용자의 특정 요구에 맞게 다양한 기준을 충족하도록 사용자 정의할 수 있습니다. 도량형 스테이션에는 다양한 측정 및 분석 기능을 제공하는 맞춤형 반도체 전용 소프트웨어 플랫폼이 있습니다. 대규모 운영 환경의 경우, 이 장비는 높은 정확도와 반복 (repeatability) 기능을 통해 테스트 반복성과 처리량을 향상시켜 비용을 크게 절감할 수 있습니다. 또한, 오푸스 II (Opus II) 는 시간이 지남에 따라 웨이퍼의 미묘한 변화를 감지하여 수익률이 높게 유지되고 품질 기준에 맞지 않는 웨이퍼를 거부합니다. 이 시스템은 또한 모든 반도체 관련 안전 표준 (semicon-specific safety standard) 을 충족하여 사용자에게 안정적이고 안전한 작업 환경을 제공합니다. 전체적으로 SEMICS Opus II는 반도체 장치의 테스트 및 특성화를위한 비용 효율적이고 효율적인 솔루션을 제공하여 생산 프로세스를 간소화하는 일체형 웨이퍼 테스트 (All-in-One Wafer-testing) 및 도량형 장치입니다.