판매용 중고 SEMICS Opus II #9284013

SEMICS Opus II는 웨이퍼 레벨 디바이스의 고성능 테스트 및 디버깅을 위해 설계된 고급 Prober 장비입니다. 확장성, 자동화 및 높은 정밀도를 고려하여 설계되었습니다. 프로버 (Prober) 시스템은 매우 정확한 완전 자동화 프로빙 단계로 구성되며, 최대 0.1 미크론의 정밀 수준으로 작은 기능을 측정하도록 설계되었습니다. Prober 장치에는 온도, 전압, 광학 신호 (Optical Signal) 와 같은 데이터를 수집하기 위한 수많은 고급 센서가 장착되어 있습니다. Prober 기계는 또한 전기, 광학 및 열 조사와 같은 다양한 정밀 측정 방법뿐만 아니라 자동 마이크로 에칭, 레이저 에칭 및 CMP (화학 기계 연마) 를위한 전용 장비의 전체 배열을 갖추고 있습니다. 이러한 모든 기능은 웨이퍼 레벨 IC 테스트에서 매우 유익하며, 미묘한 설계 오류와 장치 마이크로 구조를 정확하게 나타내는 데 도움이됩니다. Prober 도구는 자체 보정 및 원격 진단도 가능합니다. 이 모드에서는 자가 유발 (self-induced) 오류를 모니터링하고 수정하여 모든 결과가 매우 정확하고 반복 가능하도록 할 수 있습니다. 프로버 에셋 (Prober Asset) 의 자동화 측면은 또한 여러 웨이퍼를 병렬로 신속하게 평가하여 각 웨이퍼 (Wafer) 를 테스트하는 데 필요한 시간을 크게 줄입니다. 또한, 여러 DUT 유형을 지원하므로 Opus II는 광범위한 어플리케이션에 이상적입니다. 세믹스 오푸스 2 세 (SEMICS Opus II) 는 또한 자동화 장비 (automation equipment) 와 같은 다른 시스템과 통합하는 기능과 같은 여러 가지 고급 기능을 통해 다양한 산업 부문에서 일할 수 있습니다. 또한 데이터 분석 제품군 (Analysis Suite) 이 통합되어 있어 디바이스 테스트 결과를 매우 상세하고 다양하게 분석할 수 있습니다. 이렇게 하면 설계 프로세스 시작 (start of the design process) 부터 설계 결함 또는 실패를 완전히 식별할 수 있습니다. 오푸스 II (Opus II) 는 다양한 응용 분야에 적합한 고급 프로버 모델입니다. 이 장비의 기능을 통해 웨이퍼 (wafer) 수준의 디버깅 프로세스의 속도와 정확성을 극대화하려는 IC 엔지니어링 회사에게는 탁월한 선택입니다.