판매용 중고 SEMICS Opus II #9268979

SEMICS Opus II는 고급 반도체 장치 분석을위한 고급 프로빙 장비입니다. 이 시스템은 장치의 전기 특성 (electrical properties) 을 평가하는 데 사용되며, 성능을 최적화하는 데 도움이 됩니다. 컨트롤러, 프로세서, 소프트웨어를 포함한 개별 Probing 구성 요소 세트로 구성됩니다. 컨트롤러는 장치의 핵심이며 Probe 기능을 관리합니다. DC Power Analyzer, Probing Head 및 Motorized Linear Actuator로 구성됩니다. DC 전원 분석기 (Power Analyzer) 에는 사용자 안전을 보장하는 고전압 격리 스위치 (high voltage isolation switch) 와 정확한 단계 전압 측정이 가능한 독립 SMU가 장착되어 있습니다. 프로빙 헤드 (Probing Head) 는 가장 복잡하고 미세한 트랜지스터 매개변수조차도 감지하기 위해 여러 개의 프로브를 지원합니다. 전동식 선형 작동기 (Motorized Linear Actuator) 를 사용하면 프로브를 빠르고 정확하게 배치하여 단일 장치의 여러 지점을 분석할 수 있습니다. 프로세서는 Probe 작업 일정을 담당하며, 효과적인 Probing 성능을 보장하는 지능형 알고리즘을 제공합니다. 또한 사용자 정의된 소프트웨어 패키지를 통해 데이터 수집 및 분석을 담당합니다. 소프트웨어는 컴퓨터의 필수 부분이며 Test Development Module, Test Run module, Test Result Analysis 및 Parameter Extraction & Modeling과 같은 다양한 모듈로 구성됩니다. 테스트 개발 모듈 (Test Development Module) 에서는 테스트 실행 (Test Run) 모듈을 통해 테스트할 수 있는 디바이스의 다양한 매개변수를 탐색할 수 있습니다. 이 모듈은 사용자에게 그래픽 분석 및 보고서 관리 기능을 제공합니다. 테스트 결과 분석 (Test Result Analysis) 을 사용하면 결과에서 의미 있는 데이터와 매개변수를 추출할 수 있습니다. 그런 다음 이 데이터를 모델링하여 매개변수 간의 관계를 찾고 추가 최적화를 활성화할 수 있습니다. 전체적으로 Opus II prober는 반도체 장치 분석을위한 고급 도구입니다. 이 제품은 견고한 컨트롤러, 프로세싱 섹션, 소프트웨어 (소프트웨어) 로 구성되어 있어 디바이스의 특성을 완벽하게 탐색하고 모델링할 수 있습니다. 다양한 유형의 프로브 (Probe) 와 다양한 지능형 알고리즘 (Intelligent Algorithm) 을 지원하는 이 자산은 데이터 수집 및 분석 분야에서 최고의 성능을 제공합니다.